PREDICTION OF FAULTY BEHAVIOUR OF A CONVERTER BASED ON TEMPERATURE ESTIMATION WITH MACHINE LEARNING ALGORITHM
A method for predicting a faulty behaviour of an electrical converter (12) comprises: receiving an operation point indicator (I) of the electrical converter (12) indicative of an actual operation point of the electrical converter (12); receiving a measured device temperature (Td) of a power semicond...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | A method for predicting a faulty behaviour of an electrical converter (12) comprises: receiving an operation point indicator (I) of the electrical converter (12) indicative of an actual operation point of the electrical converter (12); receiving a measured device temperature (Td) of a power semiconductor device (18) of the electrical converter (12) indicative of an actual temperature of the power semiconductor device (18); inputting the operation point indicator (I) as input data into a machine learning algorithm (32) trained with historical data comprising operation point indicators and associated device temperatures; estimating an estimated device temperature (II) with the machine learning algorithm; and predicting the faulty behaviour (F) by comparing the estimated device temperature (II) with the measured device temperature (Td).
La présente invention concerne un procédé de prédiction d'un comportement défectueux d'un convertisseur électrique (12) comprenant les étapes consistant à : recevoir un indicateur de point de fonctionnement (I) du convertisseur électrique (12) indiquant un point de fonctionnement réel du convertisseur électrique (12) ; recevoir une température de dispositif mesurée (Td) d'un dispositif à semi-conducteur de puissance (18) du convertisseur électrique (12) indiquant une température réelle du dispositif à semi-conducteur de puissance (18) ; saisir l'indicateur de point de fonctionnement (I) en tant que données d'entrée dans un algorithme d'apprentissage automatique (32) entraîné avec des données historiques comprenant des indicateurs de point de fonctionnement et des températures de dispositif associées ; estimer une température de dispositif estimée (II) par l'algorithme d'apprentissage automatique ; et prédire le comportement défectueux (F) par comparaison de la température de dispositif estimée (II) à la température de dispositif mesurée (Td). |
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