STABILIZING A VOLTAGE AT A DEVICE UNDER TEST

An example method of stabilizing a voltage at a device under test (DUT) includes identifying one or more characteristics of a deviation in a first voltage to appear at the DUT. The deviation may result from a digital signal and a concomitant transient current in the DUT. The digital signal may be part of a test flow to be sent over one or more test channels of automatic test equipment (ATE) to the DUT. The one or more characteristics may be identified prior to sending the test flow to the DUT. The method also includes generating a second voltage to apply to the DUT. The second voltage may be based on the one or more characteristics and being shaped to reduce the deviation. L'invention concerne un exemple de procédé de stabilisation d'une tension au niveau d'un dispositif à l'essai (DUT) consistant à identifier l'apparition d'une ou plusieurs caractéristique(s) d'un écart dans une première tension au niveau du DUT. L'écart peut résulter d'un signal numérique et d'un courant transitoire concomitant dans le DUT. Le signal numérique peut faire partie d'un flux d'essai à envoyer sur un canal ou plusieurs canaux d'essai d'un équipement d'essai automatique (ATE) vers le DUT. Lesdites caractéristiques peuvent être identifiées avant l'envoi du flux d'essai au DUT. Le procédé consiste également à générer une seconde tension à appliquer au DUT. La seconde tension peut être fondée sur lesdites caractéristiques et est configurée pour réduire l'écart.