SENSOR COMPRISING A SOLID-STATE LAYER STRUCTURE, AND METHOD FOR PRODUCING SAID SENSOR

Die Erfindung bezieht sich auf einen Sensor mit einer Festkörper-Schichtstruktur, der folgende Elemente aufweist: Eine erste Schicht (110), die ein Halbleitermaterial aufweist; eine zweite Schicht (150), die ein Gold-Material und ein Sauerstoff-Material aufweist; und eine zwischen der ersten und der...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	KUNATH, Christian, KURTH, Eberhard
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre ; ger
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Die Erfindung bezieht sich auf einen Sensor mit einer Festkörper-Schichtstruktur, der folgende Elemente aufweist: Eine erste Schicht (110), die ein Halbleitermaterial aufweist; eine zweite Schicht (150), die ein Gold-Material und ein Sauerstoff-Material aufweist; und eine zwischen der ersten und der zweiten Schicht angeordnete Isolationsschicht (120). The invention relates to a sensor comprising a solid-state layer structure which has the following elements: a first layer (110) having a semiconductor material; a second layer (150) having a gold material and an oxygen material; and an insulation layer (120) provided between the first and the second layer. L'invention concerne un capteur comprenant une structure de couches à semi-conducteurs qui présente les éléments suivants : une première couche (110) ayant un matériau semi-conducteur ; une seconde couche (150) ayant un matériau en or et un matériau à base d'oxygène ; et une couche d'isolation (120) disposée entre la première et la seconde couche.