DETERMINING SURFACE LEVELS
A container is disclosed. The container comprises a wall defining a volume to contain material, a plurality of light sources located within the volume at different heights with respect to a base of the wall, each light source controllable to emit light. The location of the light sources defines a me...
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | A container is disclosed. The container comprises a wall defining a volume to contain material, a plurality of light sources located within the volume at different heights with respect to a base of the wall, each light source controllable to emit light. The location of the light sources defines a measurement zone to contain the material. The container further comprises a sensor above the measurement zone to receive light emitted by each of the light sources. The container also includes a controller to control a light source to emit light, receive from the sensor data indicative of the emitted light, and determine a surface level of the material based on the height of the light source and the received data.
L'invention concerne un récipient. Le récipient comprend une paroi définissant un volume destiné à contenir de la matière, une pluralité de sources de lumière situées au sein du volume à différentes hauteurs par rapport à une base de la paroi, chaque source de lumière étant apte à être commandée pour émettre de la lumière. L'emplacement des sources de lumière définit une zone de mesure destinée à contenir la matière. Le récipient comprend en outre un capteur au-dessus de la zone de mesure pour recevoir une lumière émise par chacune des sources de lumière. Le récipient comprend également un dispositif de commande pour commander une source de lumière pour émettre de la lumière, recevoir à partir du capteur des données indicatives de la lumière émise, et déterminer un niveau de surface de la matière sur la base de la hauteur de la source de lumière et des données reçues. |
---|