STANDARDIZING THE OUTPUT OF AN ELECTRICAL PROPERTY SENSOR USING A REFERENCE MAGNITUDE OBTAINED BY AN OPTICAL SPECTROMETER

A method of standardizing an output of an electrical property sensor (300) comprising the steps of: comparing in a data processor a measured magnitude (Condm) of the electrical property of an electrically conductive liquid obtained with the electrical property sensor with a reference magnitude (Condr) of the electrical property (320); and determining in the data processor a standardization factor (F) dependent on a ratio of the reference magnitude (Condr) and the measured magnitude (Condm) (340); wherein there is provided a step of calculating the reference magnitude (Condr) (330) comprising obtaining by a spectrometer spectral data resulting from an interaction of electromagnetic radiation with the electrically conductive liquid (310); and applying in the data processor a mathematical model to the spectral data to calculate the reference magnitude (Condr), which mathematical model links spectral data to magnitude of the electrical property. L'invention concerne un procédé de normalisation de la sortie d'un capteur de propriété électrique (300), qui comprend les étapes suivantes : comparer, dans un processeur de données, une grandeur mesurée (Condm) de la propriété électrique d'un liquide électroconducteur obtenue à l'aide du capteur de propriété électrique, avec une grandeur de référence (Condr) de la propriété électrique (320) ; et déterminer, dans le processeur de données, un facteur de normalisation (F) dépendant du rapport entre la grandeur de référence (Condr) et la grandeur mesurée (Condm) (340) ; une étape prévue de calcul de la grandeur de référence (Condr) (330) consiste à obtenir, par un spectromètre, des données spectrales résultant d'une interaction de rayonnement électromagnétique avec le liquide électroconducteur (310) ; et appliquer, dans le processeur de données, un modèle mathématique aux données spectrales afin de calculer la grandeur de référence (Condr), ledit modèle mathématique reliant des données spectrales à une grandeur de la propriété électrique.