DETECTING PROCESS PARAMETERS OF AN ASSEMBLY LINE

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung (100), die zur Erfassung von Prozessparametern während eines Durchlaufs einer Montagelinie (500) zur Montage von elektronischen Bauteilen und/oder zum Auftrag von Fügematerialien ausgebildet ist. Um die Erfassung von Prozessparametern über eine gesamte Montage...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	WITTREICH, Ulrich, SCHUBERT, Jörg, MASSIERER, Jonas, JARCHOFF, Kay, MATIWE, Marco, HANISCH, Michael, WORMUTH, Dirk, SOMMERFELD, Dennis
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre ; ger
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS BLASTING CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING DETAILS OR ACCESSORIES OF FURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS,IN SO FAR AS THEY ARE OF KINDS OCCURRING IN MORE THAN ONE KINDOF FURNACE ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY FURNACES FURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS IN GENERAL HEATING KILNS LIGHTING MACHINE TOOLS MEASURING MEASURING QUANTITY OF HEAT MEASURING TEMPERATURE MECHANICAL ENGINEERING METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR OPEN SINTERING OR LIKE APPARATUS OVENS PERFORMING OPERATIONS PHYSICS RETORTS SEMICONDUCTOR DEVICES SOLDERING OR UNSOLDERING TESTING THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR TRANSPORTING WEAPONS WELDING WORKING BY LASER BEAM
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung (100), die zur Erfassung von Prozessparametern während eines Durchlaufs einer Montagelinie (500) zur Montage von elektronischen Bauteilen und/oder zum Auftrag von Fügematerialien ausgebildet ist. Um die Erfassung von Prozessparametern über eine gesamte Montagelinie hinweg zu ermöglichen wird weist die Vorrichtung einen Träger (120) auf, der zur Beförderung mit einem Fördersystem (560) der Montagelinie (500) und zur Aufnahme einer Testplatte (110) ausgebildet ist, und zumindest einen Sensor (F, E, A, T) zur Messung zumindest eines Prozessparameters während des Durchlaufs. Die Erfindung betrifft weiterhin ein System aus einer Vorrichtung (100) und einer Testplatte (110). The invention relates to a device (100) which is designed for detecting process parameters during a pass through an assembly line (500) for assembling electronic components and/or for applying joining materials. In order to facilitate the detection of process parameters over an entire assembly line, the device has a carrier (120) designed to be conveyed by a conveyor system (560) of the assembly line (500) and to hold a test plate (110), and at least one sensor (F, E, A, T) for measuring at least one process parameter during the pass. The invention further relates to a system consisting of a device (100) and a test plate (110). L'invention concerne un dispositif (100) qui est conçu pour détecter des paramètres de processus lors d'un passage à travers une chaine d'assemblage (500) pour l'assemblage de composants électroniques et/ou pour l'application de matériaux d'assemblage. Afin de faciliter la détection de paramètres de processus sur toute la chaine d'assemblage, le dispositif comporte un support (120) conçu pour être transporté par un système de transport (560) de la chaine d'assemblage (500) et pour maintenir une plaque de test (110), et au moins un capteur (F, E, A, T) pour mesurer au moins un paramètre de processus pendant le passage. L'invention concerne en outre un système constitué d'un dispositif (100) et d'une plaque de test (110).