PEAK DETERMINATION IN TWO-DIMENSIONAL OPTICAL SPECTRA

A method of determining a peak intensity in an optical spectrum comprises producing a two- dimensional array (20) of spectrum values by imaging the optical spectrum onto a detector array (13); selecting a first two-dimensional subarray (21) of the array of spectrum values such that the subarray incl...

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Hauptverfasser: SCHLUETER, Hans-Juergen, QUAAS, Norbert, HUELSTEDE, Peter, GUZZONATO, Antonella
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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creator SCHLUETER, Hans-Juergen
QUAAS, Norbert
HUELSTEDE, Peter
GUZZONATO, Antonella
description A method of determining a peak intensity in an optical spectrum comprises producing a two- dimensional array (20) of spectrum values by imaging the optical spectrum onto a detector array (13); selecting a first two-dimensional subarray (21) of the array of spectrum values such that the subarray includes a first peak (1) of the spectrum, the first peak having an expected location; interpolating, within the first subarray (21), the spectrum values to produce a first interpolated subarray; determining, by using the first interpolated subarray, an actual location of the first peak (1); determining an offset by using the actual location and the expected location of the first peak; adjusting an expected location of a second peak (2) of the spectrum by using the offset; selecting a second two-dimensional subarray (22) of the array of spectrum values such that the second subarray includes the second peak (2), the second peak having an adjusted expected location; and using, within the second subarray (22), interpolated spectrum values to produce a peak intensity value of the second peak. L'invention concerne un procédé de détermination d'une intensité de pic dans un spectre optique comprenant : la production d'un réseau bidimensionnel (20) de valeurs de spectre par imagerie du spectre optique sur un réseau de détecteurs (13) ; la sélection d'un premier sous-réseau bidimensionnel (21) du réseau de valeurs de spectre de telle sorte que le sous-réseau comprend un premier pic (1) du spectre, le premier pic étant situé à un emplacement attendu ; l'interpolation, à l'intérieur du premier sous-réseau (21), des valeurs de spectre pour produire un premier sous-réseau interpolé ; la détermination, à l'aide du premier sous-réseau interpolé, d'un emplacement réel du premier pic (1) ; la détermination d'un décalage à l'aide de l'emplacement réel et de l'emplacement attendu du premier pic ; l'ajustement d'un emplacement attendu d'un second pic (2) du spectre à l'aide du décalage ; la sélection d'un second sous-réseau bidimensionnel (22) du réseau de valeurs de spectre de telle sorte que le second sous-réseau comprend le second pic (2), le second pic étant situé à un emplacement attendu ajusté ; et l'utilisation, à l'intérieur du second sous-réseau (22), de valeurs de spectre interpolées pour produire une valeur d'intensité de pic du second pic.
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L'invention concerne un procédé de détermination d'une intensité de pic dans un spectre optique comprenant : la production d'un réseau bidimensionnel (20) de valeurs de spectre par imagerie du spectre optique sur un réseau de détecteurs (13) ; la sélection d'un premier sous-réseau bidimensionnel (21) du réseau de valeurs de spectre de telle sorte que le sous-réseau comprend un premier pic (1) du spectre, le premier pic étant situé à un emplacement attendu ; l'interpolation, à l'intérieur du premier sous-réseau (21), des valeurs de spectre pour produire un premier sous-réseau interpolé ; la détermination, à l'aide du premier sous-réseau interpolé, d'un emplacement réel du premier pic (1) ; la détermination d'un décalage à l'aide de l'emplacement réel et de l'emplacement attendu du premier pic ; l'ajustement d'un emplacement attendu d'un second pic (2) du spectre à l'aide du décalage ; la sélection d'un second sous-réseau bidimensionnel (22) du réseau de valeurs de spectre de telle sorte que le second sous-réseau comprend le second pic (2), le second pic étant situé à un emplacement attendu ajusté ; et l'utilisation, à l'intérieur du second sous-réseau (22), de valeurs de spectre interpolées pour produire une valeur d'intensité de pic du second pic.</description><language>eng ; fre</language><subject>COLORIMETRY ; MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT ; MEASURING ; PHYSICS ; RADIATION PYROMETRY ; TESTING</subject><creationdate>2021</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20210204&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2021018992A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25543,76294</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20210204&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2021018992A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>SCHLUETER, Hans-Juergen</creatorcontrib><creatorcontrib>QUAAS, Norbert</creatorcontrib><creatorcontrib>HUELSTEDE, Peter</creatorcontrib><creatorcontrib>GUZZONATO, Antonella</creatorcontrib><title>PEAK DETERMINATION IN TWO-DIMENSIONAL OPTICAL SPECTRA</title><description>A method of determining a peak intensity in an optical spectrum comprises producing a two- dimensional array (20) of spectrum values by imaging the optical spectrum onto a detector array (13); selecting a first two-dimensional subarray (21) of the array of spectrum values such that the subarray includes a first peak (1) of the spectrum, the first peak having an expected location; interpolating, within the first subarray (21), the spectrum values to produce a first interpolated subarray; determining, by using the first interpolated subarray, an actual location of the first peak (1); determining an offset by using the actual location and the expected location of the first peak; adjusting an expected location of a second peak (2) of the spectrum by using the offset; selecting a second two-dimensional subarray (22) of the array of spectrum values such that the second subarray includes the second peak (2), the second peak having an adjusted expected location; and using, within the second subarray (22), interpolated spectrum values to produce a peak intensity value of the second peak. L'invention concerne un procédé de détermination d'une intensité de pic dans un spectre optique comprenant : la production d'un réseau bidimensionnel (20) de valeurs de spectre par imagerie du spectre optique sur un réseau de détecteurs (13) ; la sélection d'un premier sous-réseau bidimensionnel (21) du réseau de valeurs de spectre de telle sorte que le sous-réseau comprend un premier pic (1) du spectre, le premier pic étant situé à un emplacement attendu ; l'interpolation, à l'intérieur du premier sous-réseau (21), des valeurs de spectre pour produire un premier sous-réseau interpolé ; la détermination, à l'aide du premier sous-réseau interpolé, d'un emplacement réel du premier pic (1) ; la détermination d'un décalage à l'aide de l'emplacement réel et de l'emplacement attendu du premier pic ; l'ajustement d'un emplacement attendu d'un second pic (2) du spectre à l'aide du décalage ; la sélection d'un second sous-réseau bidimensionnel (22) du réseau de valeurs de spectre de telle sorte que le second sous-réseau comprend le second pic (2), le second pic étant situé à un emplacement attendu ajusté ; et l'utilisation, à l'intérieur du second sous-réseau (22), de valeurs de spectre interpolées pour produire une valeur d'intensité de pic du second pic.</description><subject>COLORIMETRY</subject><subject>MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT</subject><subject>MEASURING</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>RADIATION PYROMETRY</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2021</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZDANcHX0VnBxDXEN8vX0cwzx9PdT8PRTCAn313Xx9HX1CwYKOPoo-AeEeDoD6eAAV-eQIEceBta0xJziVF4ozc2g7OYa4uyhm1qQH59aXJCYnJqXWhIf7m9kYGRoYGhhaWnkaGhMnCoAmBYosw</recordid><startdate>20210204</startdate><enddate>20210204</enddate><creator>SCHLUETER, Hans-Juergen</creator><creator>QUAAS, Norbert</creator><creator>HUELSTEDE, Peter</creator><creator>GUZZONATO, Antonella</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20210204</creationdate><title>PEAK DETERMINATION IN TWO-DIMENSIONAL OPTICAL SPECTRA</title><author>SCHLUETER, Hans-Juergen ; QUAAS, Norbert ; HUELSTEDE, Peter ; GUZZONATO, Antonella</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2021018992A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2021</creationdate><topic>COLORIMETRY</topic><topic>MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT</topic><topic>MEASURING</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>RADIATION PYROMETRY</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>SCHLUETER, Hans-Juergen</creatorcontrib><creatorcontrib>QUAAS, Norbert</creatorcontrib><creatorcontrib>HUELSTEDE, Peter</creatorcontrib><creatorcontrib>GUZZONATO, Antonella</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>SCHLUETER, Hans-Juergen</au><au>QUAAS, Norbert</au><au>HUELSTEDE, Peter</au><au>GUZZONATO, Antonella</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>PEAK DETERMINATION IN TWO-DIMENSIONAL OPTICAL SPECTRA</title><date>2021-02-04</date><risdate>2021</risdate><abstract>A method of determining a peak intensity in an optical spectrum comprises producing a two- dimensional array (20) of spectrum values by imaging the optical spectrum onto a detector array (13); selecting a first two-dimensional subarray (21) of the array of spectrum values such that the subarray includes a first peak (1) of the spectrum, the first peak having an expected location; interpolating, within the first subarray (21), the spectrum values to produce a first interpolated subarray; determining, by using the first interpolated subarray, an actual location of the first peak (1); determining an offset by using the actual location and the expected location of the first peak; adjusting an expected location of a second peak (2) of the spectrum by using the offset; selecting a second two-dimensional subarray (22) of the array of spectrum values such that the second subarray includes the second peak (2), the second peak having an adjusted expected location; and using, within the second subarray (22), interpolated spectrum values to produce a peak intensity value of the second peak. L'invention concerne un procédé de détermination d'une intensité de pic dans un spectre optique comprenant : la production d'un réseau bidimensionnel (20) de valeurs de spectre par imagerie du spectre optique sur un réseau de détecteurs (13) ; la sélection d'un premier sous-réseau bidimensionnel (21) du réseau de valeurs de spectre de telle sorte que le sous-réseau comprend un premier pic (1) du spectre, le premier pic étant situé à un emplacement attendu ; l'interpolation, à l'intérieur du premier sous-réseau (21), des valeurs de spectre pour produire un premier sous-réseau interpolé ; la détermination, à l'aide du premier sous-réseau interpolé, d'un emplacement réel du premier pic (1) ; la détermination d'un décalage à l'aide de l'emplacement réel et de l'emplacement attendu du premier pic ; l'ajustement d'un emplacement attendu d'un second pic (2) du spectre à l'aide du décalage ; la sélection d'un second sous-réseau bidimensionnel (22) du réseau de valeurs de spectre de telle sorte que le second sous-réseau comprend le second pic (2), le second pic étant situé à un emplacement attendu ajusté ; et l'utilisation, à l'intérieur du second sous-réseau (22), de valeurs de spectre interpolées pour produire une valeur d'intensité de pic du second pic.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
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