PEAK DETERMINATION IN TWO-DIMENSIONAL OPTICAL SPECTRA

A method of determining a peak intensity in an optical spectrum comprises producing a two- dimensional array (20) of spectrum values by imaging the optical spectrum onto a detector array (13); selecting a first two-dimensional subarray (21) of the array of spectrum values such that the subarray incl...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: SCHLUETER, Hans-Juergen, QUAAS, Norbert, HUELSTEDE, Peter, GUZZONATO, Antonella
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:A method of determining a peak intensity in an optical spectrum comprises producing a two- dimensional array (20) of spectrum values by imaging the optical spectrum onto a detector array (13); selecting a first two-dimensional subarray (21) of the array of spectrum values such that the subarray includes a first peak (1) of the spectrum, the first peak having an expected location; interpolating, within the first subarray (21), the spectrum values to produce a first interpolated subarray; determining, by using the first interpolated subarray, an actual location of the first peak (1); determining an offset by using the actual location and the expected location of the first peak; adjusting an expected location of a second peak (2) of the spectrum by using the offset; selecting a second two-dimensional subarray (22) of the array of spectrum values such that the second subarray includes the second peak (2), the second peak having an adjusted expected location; and using, within the second subarray (22), interpolated spectrum values to produce a peak intensity value of the second peak. L'invention concerne un procédé de détermination d'une intensité de pic dans un spectre optique comprenant : la production d'un réseau bidimensionnel (20) de valeurs de spectre par imagerie du spectre optique sur un réseau de détecteurs (13) ; la sélection d'un premier sous-réseau bidimensionnel (21) du réseau de valeurs de spectre de telle sorte que le sous-réseau comprend un premier pic (1) du spectre, le premier pic étant situé à un emplacement attendu ; l'interpolation, à l'intérieur du premier sous-réseau (21), des valeurs de spectre pour produire un premier sous-réseau interpolé ; la détermination, à l'aide du premier sous-réseau interpolé, d'un emplacement réel du premier pic (1) ; la détermination d'un décalage à l'aide de l'emplacement réel et de l'emplacement attendu du premier pic ; l'ajustement d'un emplacement attendu d'un second pic (2) du spectre à l'aide du décalage ; la sélection d'un second sous-réseau bidimensionnel (22) du réseau de valeurs de spectre de telle sorte que le second sous-réseau comprend le second pic (2), le second pic étant situé à un emplacement attendu ajusté ; et l'utilisation, à l'intérieur du second sous-réseau (22), de valeurs de spectre interpolées pour produire une valeur d'intensité de pic du second pic.