SENSOR EQUIPPED WITH AT LEAST ONE MAGNET AND A DIAMAGNETIC PLATE LEVITATING ABOVE SAID AT LEAST ONE MAGNET AND METHOD TO MEASURE A PARAMETER OF AN OBJECT USING SUCH A SENSOR

Sensor (1) equipped with at least one magnet (2, 3) and a diamagnetic plate (4) levitating above said at least one magnet (2, 3), comprising actuation means (5, 6) to bring the 5 diamagnetic plate (4) into motion, and measurement means (7, 8) to measure the motion of the diamagnetic plate (4), where...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: KOTHARI, Nimit, ALIJANI, Farbod, KESKEKLER, Ata, STEENEKEN, Peter Gerard
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:Sensor (1) equipped with at least one magnet (2, 3) and a diamagnetic plate (4) levitating above said at least one magnet (2, 3), comprising actuation means (5, 6) to bring the 5 diamagnetic plate (4) into motion, and measurement means (7, 8) to measure the motion of the diamagnetic plate (4), wherein the sensor (1) comprises computing means (12) that are connected to the measurement means (7, 8), wherein the computing means (12) are arranged to derive from a measurement 10 by the measurement means (7, 8) a resonance frequency of the diamagnetic plate (4) while being loaded with an object (11), and to compare said resonance frequency with a calibrated frequency that corresponds to the diamagnetic plate's resonance frequency when the diamagnetic plate (4) is 15 unloaded, and to derive a parameter relating to the object (11) from a comparison of said resonance frequency and calibrated frequency. L'invention concerne un capteur (1) étant équipé d'au moins un aimant (2, 3) et une plaque diamagnétique (4) en lévitation au-dessus dudit au moins un aimant (2, 3), comprenant des moyens d'actionnement (5, 6) pour amener la plaque diamagnétique (4) à se mettre en mouvement, et des moyens de mesure (7, 8) pour mesurer le mouvement de la plaque diamagnétique (4), le capteur (1) comprenant des moyens de calcul (12) qui sont reliés aux moyens de mesure (7, 8), les moyens de calcul (12) étant agencés pour dériver d'une mesure par les moyens de mesure (7, 8) une fréquence de résonance de la plaque diamagnétique (4) tout en étant chargé avec un objet (11), et pour comparer ladite fréquence de résonance avec une fréquence étalonnée qui correspond à la fréquence de résonance de la plaque diamagnétique lorsque la plaque diamagnétique (4) est de déchargé, et pour déduire un paramètre relatif à l'objet (11) à partir d'une comparaison de ladite fréquence de résonance et de la fréquence étalonnée.