INSPECTION SYSTEM

This inspection system (S) comprises: a flaw detection device (1) that detects a flaw on a surface of a honeycomb structure; and an arithmetic operation device (4) that performs arithmetic operation on the basis of a signal from the flaw detection device. The arithmetic operation device determines p...

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1. Verfasser: HASHIMOTO Shuhei
Format: Patent
Sprache:eng ; fre ; jpn
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Beschreibung
Zusammenfassung:This inspection system (S) comprises: a flaw detection device (1) that detects a flaw on a surface of a honeycomb structure; and an arithmetic operation device (4) that performs arithmetic operation on the basis of a signal from the flaw detection device. The arithmetic operation device determines presence/absence of a defect on the basis a defect discrimination threshold value for discriminating presence/absence of the defect in the honeycomb structure. La présente invention concerne un système d'inspection (S) qui comprend : un dispositif de détection de défaut (1) qui détecte un défaut sur une surface d'une structure en nid d'abeilles ; et un dispositif d'opération arithmétique (4) qui effectue une opération arithmétique sur la base d'un signal provenant du dispositif de détection de défaut. Le dispositif d'opération arithmétique détermine la présence/l'absence d'un défaut sur la base d'une valeur de seuil de discrimination de défaut pour discriminer la présence/l'absence du défaut dans la structure en nid d'abeilles. この検査システム(S)は、ハニカム構造体の表面を探傷する探傷装置(1)と、探傷装置の信号に基づいて演算する演算装置(4)と、を有し、演算装置は、ハニカム構造体における欠陥の有無を判別する欠陥判別閾値に基づいて、欠陥の有無を判定する。