ALIGNMENT AND READOUT OF OPTICAL CHIPS

In a method or system for interrogating an optical chip (50), the optical chip (50) is illuminated with input light (30) and a spatially resolved image (50i) of the output light (31,32) is measured from the optical chip (50). The output light (31,32) is imaged together with a reflection of the input light (30). For example, this can be used to establish, improve, or maintain alignment of the input light (30) on a sensor input port (51) of the optical chip (50). The same detector (17) measures the spatially resolved image and a spectral response of the optical chip (50). L'invention concerne un procédé ou un système d'interrogation d'une puce optique (50), dans lequel la puce optique (50) est éclairée par une lumière d'entrée (30) et une image à résolution spatiale (50i) de la lumière de sortie (31, 32) est mesurée à partir de la puce optique (50). La lumière de sortie (31, 32) est imagée conjointement avec une réflexion de la lumière d'entrée (30). Par exemple, l'invention peut être utilisée pour établir, améliorer ou maintenir l'alignement de la lumière d'entrée (30) sur un port d'entrée de capteur (51) de la puce optique (50). Le même détecteur (17) mesure l'image résolue spatialement et une réponse spectrale de la puce optique (50).