SYSTEM AND METHOD FOR DEVICE SPECIFIC QUALITY CONTROL

Quality control tests for a diagnostic instrument can be run in an efficient manner by using a subset of the potential quality control materials to perform tests for identifying failures in the diagnostic instrument's components. Such subsets could be defined in a variety of manners, and could allow component failures to be tested relatively more frequently in a more efficient manner. Additionally, issues for particular components of diagnostic instruments may be identified based on analysis of quality control results. This identification may be part of a method that comprises receiving a plurality of quality control results wherein each quality control result from the plurality of quality control results is obtained based on performing a measurement of a corresponding quality control sample using the diagnostic instrument. La présente invention concerne des tests de contrôle de qualité pour un instrument de diagnostic pouvant être exécutés de manière efficace en utilisant un sous-ensemble des matériaux de contrôle de qualité potentiels pour effectuer des tests afin d'identifier des défaillances dans les composants de l'instrument de diagnostic. De tels sous-ensembles pourraient être définis de diverses manières, et pourraient permettre à des défaillances de composants d'être testées relativement plus fréquemment d'une manière plus efficace. De plus, des problèmes liés aux composants particuliers d'instruments de diagnostic peuvent être identifiés sur la base d'une analyse de résultats de contrôle de qualité. Cette identification peut faire partie d'un procédé qui consiste à recevoir une pluralité de résultats de contrôle de qualité, chaque résultat de contrôle de qualité de la pluralité de résultats de contrôle de qualité étant obtenu sur la base de la réalisation d'une mesure d'un échantillon de contrôle de qualité correspondant à l'aide de l'instrument de diagnostic.