EVALUATING SURFACES

In an example, a surface inspection apparatus includes a light source to illuminate a portion of a surface in a print apparatus, a light detection apparatus and processing circuitry. The light detection apparatus may receive diffusely reflected light and specularly reflected light from the portion of the surface, and may comprise a detection element for detecting the specularly reflected light. The processing circuitry may comprise a comparison module to determine a relationship between an intensity of the detected diffusely reflected light and the detected specularly reflected light and a quality module to evaluate if the surface meets a quality criterion based on the relationship. La présente invention porte, dans un exemple, sur un appareil d'inspection de surface qui comprend une source de lumière pour éclairer une partie d'une surface dans un appareil d'impression, un appareil de détection de lumière et un ensemble de circuits de traitement. L'appareil de détection de lumière peut recevoir une lumière réfléchie de manière diffuse et une lumière réfléchie de manière spéculaire à partir de la partie de la surface, et peut comprendre un élément de détection pour détecter la lumière réfléchie de manière spéculaire. L'ensemble de circuits de traitement peut comprendre un module de comparaison pour déterminer une relation entre une intensité de la lumière réfléchie de manière diffuse détectée et la lumière réfléchie de manière spéculaire détectée et un module de qualité pour évaluer si la surface satisfait un critère de qualité sur la base de la relation.