CALIBRATION SYSTEMS USABLE FOR DISTORTION CHARACTERIZATION IN CAMERAS

Example embodiments relate to calibration systems usable for distortion characterization in cameras. An example embodiment includes a calibration system. The calibration system includes a first calibration target that includes a first mirror, a plurality of fiducials positioned on or adjacent to the first mirror, and an indexing fiducial positioned on or adjacent to the first mirror. The calibration system also includes a second calibration target that includes one or more second mirrors and has an aperture defined therein. The first minor and the one or more second mirrors are separated by a distance. The first : mirror, faces the one or more second mirrors. The indexing fiducial is visible through the aperture in the second calibration target. Reflections of the plurality of fiducials are visible through the aperture defined in the second calibration target. The reflections of the plurality of fiducials are iterated reflections. Selon des modes de réalisation à titre d'exemple, la présente invention concerne des systèmes d'étalonnage utilisables pour la caractérisation de la distorsion dans des appareils de prise de vues. Un mode de réalisation à titre d'exemple comprend un système d'étalonnage. Le système d'étalonnage comprend une première cible d'étalonnage qui comprend un premier miroir, une pluralité de repères de centrage positionnés sur le premier miroir ou de manière adjacente à celui-ci, et un repère de centrage d'indexation positionné sur le premier miroir ou de manière adjacente à celui-ci. Le système d'étalonnage comprend également une seconde cible d'étalonnage qui comprend un ou plusieurs seconds miroirs et possède une ouverture définie dans celle-ci. Le premier miroir et ledit ou lesdits seconds miroirs sont séparés par une distance. Le premier miroir fait face audit ou auxdits seconds miroirs. Le repère de centrage d'indexation est visible à travers l'ouverture dans la seconde cible d'étalonnage. Des réflexions de la pluralité de repères de centrage sont visibles à travers l'ouverture définie dans la seconde cible d'étalonnage. Les réflexions de la pluralité de repères de centrage sont des réflexions itérées.