CALIBRATION TOOL AND METHOD
The invention relates to a calibration tool and a method for calibrating a laser-triangulation measuring system, wherein the calibration tool comprises a tool body that defines a reference plane and that is rotatable relative to the measuring system about a rotation axis perpendicular to said refere...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | The invention relates to a calibration tool and a method for calibrating a laser-triangulation measuring system, wherein the calibration tool comprises a tool body that defines a reference plane and that is rotatable relative to the measuring system about a rotation axis perpendicular to said reference plane, wherein the tool body is provided with one or more calibration surfaces that define a pattern of calibration positions, wherein the pattern comprises at least three columns extending in a radial direction away from the rotation axis and at least three rows extending in a circumferential direction about the rotation axis, wherein for each column the calibration positions within said respective column vary in height relative to the reference plane in a height direction perpendicular to said reference plane and wherein for each row the calibration positions within the respective row vary in height in the height direction relative to the reference plane.
L'invention concerne un outil d'étalonnage et un procédé pour étalonner un système de mesure par triangulation laser, l'outil d'étalonnage comprenant un corps d'outil qui délimite un plan de référence et qui peut tourner par rapport au système de mesure autour d'un axe de rotation perpendiculaire audit plan de référence, le corps d'outil étant pourvu d'une ou plusieurs surfaces d'étalonnage qui délimitent un motif de positions d'étalonnage, le motif comprenant au moins trois colonnes s'étendant dans une direction radiale à partir de l'axe de rotation et au moins trois rangées s'étendant dans une direction circonférentielle autour de l'axe de rotation. Pour chaque colonne, les positions d'étalonnage à l'intérieur de ladite colonne respective varient en hauteur par rapport au plan de référence dans une direction de hauteur perpendiculaire audit plan de référence et, pour chaque rangée, les positions d'étalonnage à l'intérieur de la rangée respective varient en hauteur dans la direction de la hauteur par rapport au plan de référence. |
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