HYBRID SYSTEMS AND METHODS FOR CHARACTERIZING STRESS IN CHEMICALLY STRENGTHENED TRANSPARENT SUBSTRATES
The hybrid measurement system includes an evanescent prism coupling spectroscopy (EPCS) sub-system and a light-scattering polarimetry (LSP) sub-system. The EPCS sub-system includes an EPCS light source optically coupled to an EPCS detector system through an EPCS coupling prism. The LSP sub-system in...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | The hybrid measurement system includes an evanescent prism coupling spectroscopy (EPCS) sub-system and a light-scattering polarimetry (LSP) sub-system. The EPCS sub-system includes an EPCS light source optically coupled to an EPCS detector system through an EPCS coupling prism. The LSP sub-system includes an LSP light source optically coupled to an optical compensator, which in turn is optically coupled to a LSP detector system via a LSP coupling prism. A support structure supports the EPCS and LSP coupling prisms to define a coupling prism assembly, which supports the two prisms at a measurement location. Stress measurements made using the EPCS and LSP sub-systems are combined to fully characterize the stress properties of a transparent chemically strengthened substrate. Methods of processing the EPCS and LSP measurements to improve measurement accuracy are also disclosed.
L'invention concerne un système de mesure hybride comprenant un sous-système de spectroscopie de couplage de prisme évanescent (EPCS) et un sous-système de polarimétrie de diffusion de lumière (LSP). Le sous-système EPCS comprend une source de lumière EPCS couplée optiquement à un système de détecteur EPCS par l'intermédiaire d'un prisme de couplage EPCS. Le sous-système LSP comprend une source de lumière LSP optiquement couplée à un compensateur optique lui-même optiquement couplé à un système de détecteur LSP par l'intermédiaire d'un prisme de couplage LSP. Une structure de maintien maintient les prismes de couplage EPCS et LSP afin de définir un ensemble prisme de couplage, qui maintient les deux prismes à un emplacement de mesure. Des mesures de contrainte réalisées à l'aide des sous-systèmes EPCS et LSP sont combinées afin de caractériser complètement les propriétés de contrainte d'un substrat transparent chimiquement renforcé. L'invention concerne également des procédés de traitement des mesures EPCS et LSP permettant d'améliorer la précision de mesure. |
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