MICROSCOPE

This microscope comprises: an illumination optical system that forms an illumination region on a specimen; a scanning unit that relatively scans the illumination region and the specimen; a detection optical system on which light from the specimen impinges; a detector disposed at a position in the detection optical system that is conjugate to the illumination region, the detector having a plurality of detection units that are arranged in at least one direction; a wavelength division unit included in the detection optical system or the illumination optical system, the wavelength division unit dividing light into light of a first wavelength that impinges on a first portion of the detector from one illumination region, and light of a second wavelength that impinges on a second portion of the detector from the one illumination region; and an image processing unit that generates image data on the basis of a correction light quantity signal in which light quantity signals that pertain to the specimen and are generated by each of the plurality of detection units due to the relative scanning are corrected in accordance with the positions of each of the detection units. Le microscope de l'invention est équipé : d'un système optique d'éclairage formant une région d'éclairage sur un échantillon ; d'une unité balayage qui exerce un balayage relatif vis-à-vis de la région d'éclairage et de l'échantillon ; d'un système optique de détection qui présente une incidence d'une lumière provenant de l'échantillon ; d'un détecteur qui est disposé sur le système optique de détection en une position conjuguée à la région d'éclairage, et qui possède une pluralité d'unités détection alignée au moins dans une première direction ; d'une unité division de longueur d'onde qui est contenue dans le système optique de détection ou dans le système optique d'éclairage, et qui divise une lumière de première longueur d'onde incidente sur une première portion du détecteur depuis une région éclairage, et une lumière de seconde longueur d'onde incidente sur une seconde portion du détecteur depuis la région éclairage ; et d'une unité traitement d'image qui génère des données d'image sur la base de signaux de quantité de lumière corrigés dans lesquels des signaux de quantité de lumière d'un échantillon générés individuellement par la pluralité d'unités détection sous l'effet du balayage relatif, sont corrigés selon la position de chacune des unités détection. 顕微鏡は、照明領域を試料に形成する照明光学系と、照明領域と試料とを相対走査させ