METHOD AND DEVICE FOR APPROXIMATELY DETERMINING VOLTAGES AT A HIGH-VOLTAGE SIDE OF A TRANSFORMER
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur näherungsweisen Bestimmung von Spannungen an einer Oberspannungsseite eines Transformators (4) anhand von gemessenen Spannungen an einer Unterspannungsseite des Transformators (4). Das Verfahren weist die folgenden Schritte auf: - Messen von Dreiecksspannunge...
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Hauptverfasser: | , , |
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre ; ger |
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Zusammenfassung: | Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur näherungsweisen Bestimmung von Spannungen an einer Oberspannungsseite eines Transformators (4) anhand von gemessenen Spannungen an einer Unterspannungsseite des Transformators (4). Das Verfahren weist die folgenden Schritte auf: - Messen von Dreiecksspannungen (uΔ) und Strangspannungen (uγ) und Phasenwinkeln (Φγ) an der Unterspannungsseite des Transformators (4); - Transformieren der Strangspannungen (uγ) und Phasenwinkel (Φγ) in Mit- und Gegensystemspannungen (u*+, u*-) und Phasenwinkel (Φ*+, Φ*-) des Mit- bzw. Gegensystems an der Unterspannungsseite; - Bestimmen von Mit- und Gegensystemspannungen (u*+, u*-) und Phasenwinkeln (Φ+, Φ-) des Mit- bzw. Gegensystems an der Oberspannungsseite aus den Mit- und Gegensystemspannungen (u*+, u*-) und Phasenwinkeln (Φ+, Φ-) des Mit- bzw. Gegensystems an der Unter- spannungsseite; - Bestimmen von Schätzwerten einer Nullsystemspannung (u*0) und eines Phasenwinkels (Φ*0) eines Nullsystems an der Oberspannungsseite aus den gemessenen Dreiecksspannungen (uΔ) und Strangspannungen (uv) und Phasenwinkeln (Φγ) an der Unterspannungsseite; und - Transformieren der Mit-, Gegen- und Nullsystemspannungen (u*+, u*-, u*0) und der Phasenwinkel (Φ*+, Φ*-, Φ*0) in Strangspannungen und/oder Dreiecksspannungen an der Oberspannungsseite des Transformators (4). Die Erfindung betrifft weiter eine zur Durchführung des Verfahrens eingerichtete Vorrichtung.
The invention relates to a method for approximately determining voltages at a high-voltage side of a transformer (4) on the basis of measured voltages at a low-voltage side of the transformer (4). The method comprises the following steps: - measuring delta voltages (uΔ) and phase voltages (uγ) and phase angles (Φγ) at the low-voltage side of the transformer (4); - transforming the phase voltages (uγ) and phase angles (Φγ) into positive and negative phase sequence system voltages (u*+, u*-) and phase angles (Φ*+, Φ*-) of the positive and negative phase sequence systems, respectively, at the low-voltage side; - determining positive and negative phase sequence system voltages (u*+, u*-) and phase angles (Φ+, Φ-) of the positive and negative phase sequence systems, respectively, at the high-voltage side from the positive and negative phase sequence system voltages (u*+, u*-) and phase angles (Φ+, Φ-) of the positive and negative phase sequence systems, respectively, at the low-voltage side; - determining estimated values of a zero phase sequence system v |
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