METHOD AND ARRANGEMENT FOR DETERMINING THE ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) OF A TECHNICAL SYSTEM
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Ermittlung der elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV) eines technischen Systems, mit: - Vorgeben von wenigstens einer Einflussgröße des technischen Systems, wobei die Einflussgröße einen potentiellen Einfluss auf die EMV des technischen Systems hat; - Ermi...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre ; ger |
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Zusammenfassung: | Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Ermittlung der elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV) eines technischen Systems, mit: - Vorgeben von wenigstens einer Einflussgröße des technischen Systems, wobei die Einflussgröße einen potentiellen Einfluss auf die EMV des technischen Systems hat; - Ermitteln wenigstens einer EMV-Ergebnisgröße des technischen Systems basierend auf einer Variation der Einflussgröße. Weiter betrifft die Erfindung eine Anordnung (200) zum Ermitteln der elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV) eines technischen Systems, mit: - einer Eingabeeinrichtung (210), mittels der ein Benutzer wenigstens eine Einflussgröße des technischen Systems vorgeben kann, wobei die Einflussgröße einen potentiellen Einfluss auf die EMV des technischen Systems hat; - einer Berechnungseinrichtung (220), die dazu eingerichtet ist, wenigstens eine EMV- Ergebnisgröße des technischen Systems basierend auf einer Variation der Einflussgröße zu ermitteln.
The invention relates to a method for determining the electromagnetic compatibility (EMC) of a technical system, comprising: - specifying at least one influencing variable of the technical system, wherein the influencing variable has a potential influence on the EMC of the technical system; - determining at least one EMC outcome variable of the technical system on the basis of a variation of the influencing variable. The invention further relates to an arrangement (200) for determining the electromagnetic compatibility (EMC) of a technical system, comprising: - an input device (210) by means of which a user can specify at least one influencing variable of the technical system, wherein the influencing variable has a potential influence on the EMC of the technical system; - a computing device (220) which is designed to determine at least one EMC outcome variable of the technical system on the basis of a variation of the influencing variable.
L'invention concerne un procédé permettant de déterminer la compatibilité électromagnétique (CEM) d'un système technique, le procédé comprenant : - la spécification d'une grandeur d'influence du système technique, la grandeur d'influence exerçant une influence potentielle sur la CEM du système technique ; - la détermination d'au moins une grandeur de résultat CEM du système technique, sur la base d'une variation de la grandeur d'influence. L'invention concerne en outre un dispositif (200) permettant de déterminer la compatibilité électromagnétique (CEM) d'un système technique |
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