SYSTEMS, DEVICES AND METHODS FOR MICRO-VIBRATION DATA EXTRACTION USING A TIME OF FLIGHT (ToF) IMAGING DEVICE
System and methods are provided for detecting vibrations of one or more objects comprising at least one illumination source configured to project structured light pattern; a Time-of-Flight (ToF) imaging device comprising: an illumination source configured to project modulated light, a ToF sensor, co...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | System and methods are provided for detecting vibrations of one or more objects comprising at least one illumination source configured to project structured light pattern; a Time-of-Flight (ToF) imaging device comprising: an illumination source configured to project modulated light, a ToF sensor, configured to capture a plurality of images comprising reflections of the modulated light, the structured light pattern from, and ambient light images of one or more objects; and at least one processor configured to: extract depth data of said one or more objects by analyzing the plurality of images and analyze one or more changes in one or more speckle patterns of at least one of the reflections of said structured light pattern in at least some consecutive images of the plurality of images; and identify the vibrations of the at least one object based on said speckle pattern analysis and said depth data.
L'invention concerne un système et des procédés permettant de détecter des vibrations d'un ou plusieurs objets, faisant intervenir au moins une source d'éclairage configurée pour projeter un motif de lumière structuré; un dispositif d'imagerie à temps de vol (ToF) comprenant : une source d'éclairage configurée pour projeter une lumière modulée, un capteur de ToF, configuré pour capturer une pluralité d'images comprenant des réflexions de la lumière modulée, le motif de lumière structuré à partir d'un ou plusieurs objets et des images de lumière ambiante de ceux-ci; et au moins un processeur configuré pour : extraire des données de profondeur dudit ou desdits objets par analyse de la pluralité d'images, et analyser un ou plusieurs changements dans un ou plusieurs motifs de granularité d'au moins l'une des réflexions dudit motif de lumière structuré dans au moins certaines images consécutives de la pluralité d'images; et identifier les vibrations dudit objet sur la base de ladite analyse de motif de granularité et desdites données de profondeur. |
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