METHOD AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT FOR OCT MEASUREMENT BEAM ADJUSTMENT

Diese Anmeldung betrifft ein Verfahren zum Bestimmen von translatorischen Abweichungen zwischen dem Messkoordinatensystem (15) eines um zwei Achsen (C, D) verkippbaren Messspiegelscanners (13), der einen Messstrahl (12) zweidimensional ablenkt, und dem Bearbeitungskoordinatensystem (10) eines um zwe...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: STAMBKE, Martin, HERMANI, Jan-Patrick, SAUTER, Alexander, NOTHEIS, Thomas
Format: Patent
Sprache:eng ; fre ; ger
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
container_end_page
container_issue
container_start_page
container_title
container_volume
creator STAMBKE, Martin
HERMANI, Jan-Patrick
SAUTER, Alexander
NOTHEIS, Thomas
description Diese Anmeldung betrifft ein Verfahren zum Bestimmen von translatorischen Abweichungen zwischen dem Messkoordinatensystem (15) eines um zwei Achsen (C, D) verkippbaren Messspiegelscanners (13), der einen Messstrahl (12) zweidimensional ablenkt, und dem Bearbeitungskoordinatensystem (10) eines um zwei Achsen (A, B) verkippbaren Bearbeitungsspiegelscanners (7), der sowohl den vom Messspiegelscanner (13) abgelenkten Messstrahl (12) als auch einen Bearbeitungsstrahl (3) zweidimensional auf ein Werkstück (2) ablenkt, wobei der am Werkstück (2) reflektierte Messstrahl (12') den Pfad des einfallenden Messstrahls (12) zurückläuft und von einem ortsauflösenden Messsensor (17) erfasst wird, um ortsauflösende Informationen des Werkstücks (2) zu ermitteln, und wobei in einer Nullstellung des Messspiegelscanners (13) der reflektierte Messstrahl (12') im Sensorbild (18) des Messsensors (17) auf eine vorbekannte Bildposition (19) abgebildet wird, umfasst unterschiedliche Verfahrensschritte so, dass ein Bestimmen einer translatorischen Abweichung (Δx, Δy) zwischen dem Bearbeitungs- und dem Messkoordinatensystem (10, 15) anhand der im Sensorbild (18) des Messsensors (17) vorhandenen Abweichung zwischen der der Fokuslage des Bearbeitungsstrahls (3) entsprechenden vorbekannten Bildposition (19) und der aus den Höheninformationen erfassten Lochblendenmitte (20') erledigt wird. The invention relates to a method for ascertaining translational deviations between the measuring coordinate system (15) of a measuring mirror scanner (13), which can be tilted about two axes (C, D) and deflects a measuring beam (12) in two dimensions, and the processing coordinate system (10) of a processing mirror scanner (7), which can be tilted about two axes (A, B) and deflects both the measuring beam (12) deflected by the measuring mirror scanner (13) and a processing beam (3) in two dimensions onto a workpiece (2). The measuring beam (12') reflected on the workpiece (2) travels back on the path of the incident measuring beam (12) and is captured by a high-resolution measuring sensor (17) in order to determine high-resolution information about the workpiece (2). In a zero position of the measuring mirror scanner (13), the reflected measuring beam (12') is imaged in the sensor image (18) of the measuring sensor (17) onto a previously known image position (19). The method comprises different method steps, so that an ascertainment of a translational deviation (Δχ, Δy) between the processing coordinat
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_WO2020094709A3</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>WO2020094709A3</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_WO2020094709A33</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZHD3dQ3x8HdRcPRzUXD29w0IDXENUggI8ncPcvQF0S6hziEKbv5BCv5A2tfVMTg0yNXX1S9EwckVqMDRxSs0OATE52FgTUvMKU7lhdLcDMpuriHOHrqpBfnxqcUFicmpeakl8eH-RgZGBgaWJuYGlo7GxsSpAgCZ4C2n</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>METHOD AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT FOR OCT MEASUREMENT BEAM ADJUSTMENT</title><source>esp@cenet</source><creator>STAMBKE, Martin ; HERMANI, Jan-Patrick ; SAUTER, Alexander ; NOTHEIS, Thomas</creator><creatorcontrib>STAMBKE, Martin ; HERMANI, Jan-Patrick ; SAUTER, Alexander ; NOTHEIS, Thomas</creatorcontrib><description>Diese Anmeldung betrifft ein Verfahren zum Bestimmen von translatorischen Abweichungen zwischen dem Messkoordinatensystem (15) eines um zwei Achsen (C, D) verkippbaren Messspiegelscanners (13), der einen Messstrahl (12) zweidimensional ablenkt, und dem Bearbeitungskoordinatensystem (10) eines um zwei Achsen (A, B) verkippbaren Bearbeitungsspiegelscanners (7), der sowohl den vom Messspiegelscanner (13) abgelenkten Messstrahl (12) als auch einen Bearbeitungsstrahl (3) zweidimensional auf ein Werkstück (2) ablenkt, wobei der am Werkstück (2) reflektierte Messstrahl (12') den Pfad des einfallenden Messstrahls (12) zurückläuft und von einem ortsauflösenden Messsensor (17) erfasst wird, um ortsauflösende Informationen des Werkstücks (2) zu ermitteln, und wobei in einer Nullstellung des Messspiegelscanners (13) der reflektierte Messstrahl (12') im Sensorbild (18) des Messsensors (17) auf eine vorbekannte Bildposition (19) abgebildet wird, umfasst unterschiedliche Verfahrensschritte so, dass ein Bestimmen einer translatorischen Abweichung (Δx, Δy) zwischen dem Bearbeitungs- und dem Messkoordinatensystem (10, 15) anhand der im Sensorbild (18) des Messsensors (17) vorhandenen Abweichung zwischen der der Fokuslage des Bearbeitungsstrahls (3) entsprechenden vorbekannten Bildposition (19) und der aus den Höheninformationen erfassten Lochblendenmitte (20') erledigt wird. The invention relates to a method for ascertaining translational deviations between the measuring coordinate system (15) of a measuring mirror scanner (13), which can be tilted about two axes (C, D) and deflects a measuring beam (12) in two dimensions, and the processing coordinate system (10) of a processing mirror scanner (7), which can be tilted about two axes (A, B) and deflects both the measuring beam (12) deflected by the measuring mirror scanner (13) and a processing beam (3) in two dimensions onto a workpiece (2). The measuring beam (12') reflected on the workpiece (2) travels back on the path of the incident measuring beam (12) and is captured by a high-resolution measuring sensor (17) in order to determine high-resolution information about the workpiece (2). In a zero position of the measuring mirror scanner (13), the reflected measuring beam (12') is imaged in the sensor image (18) of the measuring sensor (17) onto a previously known image position (19). The method comprises different method steps, so that an ascertainment of a translational deviation (Δχ, Δy) between the processing coordinate system and the measuring coordinate system (10, 15) based on the deviation, present in the sensor image (18) of the measuring sensor (17), between the previously known image position (19) corresponding to the focus position of the processing beam (3) and the pinhole diaphragm center (20') determined from the height information is completed. La présente invention concerne un procédé de détermination d'écarts translatoires entre le système de coordonnées de mesure (15) d'un scanner de mesure à miroirs (13) basculable autour de deux axes (C, D), qui dévie de manière bidimensionnelle un rayon de mesure (12), et le système de coordonnées de traitement (10) d'un scanner de traitement à miroirs (7) basculable autour de deux axes (A, B) qui dévie aussi bien le rayon de mesure (12) dévié par le scanner de mesure à miroirs (13) qu'un rayon de traitement (3) de manière bidimensionnelle sur une pièce à traiter (2). Le rayon de mesure réfléchi (12') sur la pièce à traiter (2) parcourt dans l'autre sens le chemin du rayon de mesure (12) incident et est détecté par un capteur de mesure (17) à résolution locale pour déterminer des informations à résolution locale de la pièce à traiter (2) et, dans une position zéro du scanner de mesure à miroirs (13), le rayon de mesure réfléchi (12') étant reproduit dans l'image captée (18) du capteur de mesure (17) sur une position d'image (19) déjà connue. Ledit procédé comprend les étapes suivantes consistant à : - déterminer l'écart de position de mise au point x-y du rayon de traitement (3) relativement au milieu (20) du diaphragme à trou d'un détecteur de diaphragme à trou (21), disposé sur le plan d'appui (8) de la pièce à traiter, par balayage du diaphragme à trou (22) avec le rayon de traitement (3) dévié par le scanner de traitement à miroirs (7) selon un quadrillage x-y et par évaluation de la puissance laser détectée en chacun des points (24) du quadrillage, ainsi que par fixation du scanner de traitement à miroirs (7) à la position de balayage, corrigée à l'aide de l'écart de position de mise au point x-y déterminé, à laquelle la position de mise au point du rayon de traitement (3) se trouve à une position prédéfinie, en particulier au milieu (20) du diaphragme à trou; - lorsque le scanner de traitement à miroirs (7) est fixé dans la position de balayage corrigée, détecter des informations de hauteur de résolution locale du diaphragme à trou (22) au moyen du capteur de mesure (17) par balayage du diaphragme à trou (22) avec le rayon de mesure (12) dévié par le scanner de mesure à miroirs (13); et - déterminer un écart translatoire (Δχ, Δy) entre le système de coordonnées de traitement et le système de coordonnées de mesure (10, 15) à l'aide de l'écart, présent dans l'image captée (18) du capteur de mesure (17), entre la position d'image (19) déjà connue correspondant à la position de mise au point du rayon de traitement (3) et le centre (20') du diaphragme à trou détecté par les informations de hauteur.</description><language>eng ; fre ; ger</language><subject>CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING ; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING ; GYROSCOPIC INSTRUMENTS ; MACHINE TOOLS ; MEASURING ; MEASURING ANGLES ; MEASURING AREAS ; MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS ; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS ; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS ; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; NAVIGATION ; PERFORMING OPERATIONS ; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY ; PHYSICS ; SOLDERING OR UNSOLDERING ; SURVEYING ; TESTING ; TRANSPORTING ; WELDING ; WORKING BY LASER BEAM</subject><creationdate>2020</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20200702&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2020094709A3$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25543,76293</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20200702&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2020094709A3$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>STAMBKE, Martin</creatorcontrib><creatorcontrib>HERMANI, Jan-Patrick</creatorcontrib><creatorcontrib>SAUTER, Alexander</creatorcontrib><creatorcontrib>NOTHEIS, Thomas</creatorcontrib><title>METHOD AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT FOR OCT MEASUREMENT BEAM ADJUSTMENT</title><description>Diese Anmeldung betrifft ein Verfahren zum Bestimmen von translatorischen Abweichungen zwischen dem Messkoordinatensystem (15) eines um zwei Achsen (C, D) verkippbaren Messspiegelscanners (13), der einen Messstrahl (12) zweidimensional ablenkt, und dem Bearbeitungskoordinatensystem (10) eines um zwei Achsen (A, B) verkippbaren Bearbeitungsspiegelscanners (7), der sowohl den vom Messspiegelscanner (13) abgelenkten Messstrahl (12) als auch einen Bearbeitungsstrahl (3) zweidimensional auf ein Werkstück (2) ablenkt, wobei der am Werkstück (2) reflektierte Messstrahl (12') den Pfad des einfallenden Messstrahls (12) zurückläuft und von einem ortsauflösenden Messsensor (17) erfasst wird, um ortsauflösende Informationen des Werkstücks (2) zu ermitteln, und wobei in einer Nullstellung des Messspiegelscanners (13) der reflektierte Messstrahl (12') im Sensorbild (18) des Messsensors (17) auf eine vorbekannte Bildposition (19) abgebildet wird, umfasst unterschiedliche Verfahrensschritte so, dass ein Bestimmen einer translatorischen Abweichung (Δx, Δy) zwischen dem Bearbeitungs- und dem Messkoordinatensystem (10, 15) anhand der im Sensorbild (18) des Messsensors (17) vorhandenen Abweichung zwischen der der Fokuslage des Bearbeitungsstrahls (3) entsprechenden vorbekannten Bildposition (19) und der aus den Höheninformationen erfassten Lochblendenmitte (20') erledigt wird. The invention relates to a method for ascertaining translational deviations between the measuring coordinate system (15) of a measuring mirror scanner (13), which can be tilted about two axes (C, D) and deflects a measuring beam (12) in two dimensions, and the processing coordinate system (10) of a processing mirror scanner (7), which can be tilted about two axes (A, B) and deflects both the measuring beam (12) deflected by the measuring mirror scanner (13) and a processing beam (3) in two dimensions onto a workpiece (2). The measuring beam (12') reflected on the workpiece (2) travels back on the path of the incident measuring beam (12) and is captured by a high-resolution measuring sensor (17) in order to determine high-resolution information about the workpiece (2). In a zero position of the measuring mirror scanner (13), the reflected measuring beam (12') is imaged in the sensor image (18) of the measuring sensor (17) onto a previously known image position (19). The method comprises different method steps, so that an ascertainment of a translational deviation (Δχ, Δy) between the processing coordinate system and the measuring coordinate system (10, 15) based on the deviation, present in the sensor image (18) of the measuring sensor (17), between the previously known image position (19) corresponding to the focus position of the processing beam (3) and the pinhole diaphragm center (20') determined from the height information is completed. La présente invention concerne un procédé de détermination d'écarts translatoires entre le système de coordonnées de mesure (15) d'un scanner de mesure à miroirs (13) basculable autour de deux axes (C, D), qui dévie de manière bidimensionnelle un rayon de mesure (12), et le système de coordonnées de traitement (10) d'un scanner de traitement à miroirs (7) basculable autour de deux axes (A, B) qui dévie aussi bien le rayon de mesure (12) dévié par le scanner de mesure à miroirs (13) qu'un rayon de traitement (3) de manière bidimensionnelle sur une pièce à traiter (2). Le rayon de mesure réfléchi (12') sur la pièce à traiter (2) parcourt dans l'autre sens le chemin du rayon de mesure (12) incident et est détecté par un capteur de mesure (17) à résolution locale pour déterminer des informations à résolution locale de la pièce à traiter (2) et, dans une position zéro du scanner de mesure à miroirs (13), le rayon de mesure réfléchi (12') étant reproduit dans l'image captée (18) du capteur de mesure (17) sur une position d'image (19) déjà connue. Ledit procédé comprend les étapes suivantes consistant à : - déterminer l'écart de position de mise au point x-y du rayon de traitement (3) relativement au milieu (20) du diaphragme à trou d'un détecteur de diaphragme à trou (21), disposé sur le plan d'appui (8) de la pièce à traiter, par balayage du diaphragme à trou (22) avec le rayon de traitement (3) dévié par le scanner de traitement à miroirs (7) selon un quadrillage x-y et par évaluation de la puissance laser détectée en chacun des points (24) du quadrillage, ainsi que par fixation du scanner de traitement à miroirs (7) à la position de balayage, corrigée à l'aide de l'écart de position de mise au point x-y déterminé, à laquelle la position de mise au point du rayon de traitement (3) se trouve à une position prédéfinie, en particulier au milieu (20) du diaphragme à trou; - lorsque le scanner de traitement à miroirs (7) est fixé dans la position de balayage corrigée, détecter des informations de hauteur de résolution locale du diaphragme à trou (22) au moyen du capteur de mesure (17) par balayage du diaphragme à trou (22) avec le rayon de mesure (12) dévié par le scanner de mesure à miroirs (13); et - déterminer un écart translatoire (Δχ, Δy) entre le système de coordonnées de traitement et le système de coordonnées de mesure (10, 15) à l'aide de l'écart, présent dans l'image captée (18) du capteur de mesure (17), entre la position d'image (19) déjà connue correspondant à la position de mise au point du rayon de traitement (3) et le centre (20') du diaphragme à trou détecté par les informations de hauteur.</description><subject>CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING</subject><subject>CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING</subject><subject>GYROSCOPIC INSTRUMENTS</subject><subject>MACHINE TOOLS</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ANGLES</subject><subject>MEASURING AREAS</subject><subject>MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS</subject><subject>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</subject><subject>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</subject><subject>METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>NAVIGATION</subject><subject>PERFORMING OPERATIONS</subject><subject>PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>SOLDERING OR UNSOLDERING</subject><subject>SURVEYING</subject><subject>TESTING</subject><subject>TRANSPORTING</subject><subject>WELDING</subject><subject>WORKING BY LASER BEAM</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2020</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZHD3dQ3x8HdRcPRzUXD29w0IDXENUggI8ncPcvQF0S6hziEKbv5BCv5A2tfVMTg0yNXX1S9EwckVqMDRxSs0OATE52FgTUvMKU7lhdLcDMpuriHOHrqpBfnxqcUFicmpeakl8eH-RgZGBgaWJuYGlo7GxsSpAgCZ4C2n</recordid><startdate>20200702</startdate><enddate>20200702</enddate><creator>STAMBKE, Martin</creator><creator>HERMANI, Jan-Patrick</creator><creator>SAUTER, Alexander</creator><creator>NOTHEIS, Thomas</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20200702</creationdate><title>METHOD AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT FOR OCT MEASUREMENT BEAM ADJUSTMENT</title><author>STAMBKE, Martin ; HERMANI, Jan-Patrick ; SAUTER, Alexander ; NOTHEIS, Thomas</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2020094709A33</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre ; ger</language><creationdate>2020</creationdate><topic>CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING</topic><topic>CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING</topic><topic>GYROSCOPIC INSTRUMENTS</topic><topic>MACHINE TOOLS</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ANGLES</topic><topic>MEASURING AREAS</topic><topic>MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS</topic><topic>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</topic><topic>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</topic><topic>METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>NAVIGATION</topic><topic>PERFORMING OPERATIONS</topic><topic>PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>SOLDERING OR UNSOLDERING</topic><topic>SURVEYING</topic><topic>TESTING</topic><topic>TRANSPORTING</topic><topic>WELDING</topic><topic>WORKING BY LASER BEAM</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>STAMBKE, Martin</creatorcontrib><creatorcontrib>HERMANI, Jan-Patrick</creatorcontrib><creatorcontrib>SAUTER, Alexander</creatorcontrib><creatorcontrib>NOTHEIS, Thomas</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>STAMBKE, Martin</au><au>HERMANI, Jan-Patrick</au><au>SAUTER, Alexander</au><au>NOTHEIS, Thomas</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>METHOD AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT FOR OCT MEASUREMENT BEAM ADJUSTMENT</title><date>2020-07-02</date><risdate>2020</risdate><abstract>Diese Anmeldung betrifft ein Verfahren zum Bestimmen von translatorischen Abweichungen zwischen dem Messkoordinatensystem (15) eines um zwei Achsen (C, D) verkippbaren Messspiegelscanners (13), der einen Messstrahl (12) zweidimensional ablenkt, und dem Bearbeitungskoordinatensystem (10) eines um zwei Achsen (A, B) verkippbaren Bearbeitungsspiegelscanners (7), der sowohl den vom Messspiegelscanner (13) abgelenkten Messstrahl (12) als auch einen Bearbeitungsstrahl (3) zweidimensional auf ein Werkstück (2) ablenkt, wobei der am Werkstück (2) reflektierte Messstrahl (12') den Pfad des einfallenden Messstrahls (12) zurückläuft und von einem ortsauflösenden Messsensor (17) erfasst wird, um ortsauflösende Informationen des Werkstücks (2) zu ermitteln, und wobei in einer Nullstellung des Messspiegelscanners (13) der reflektierte Messstrahl (12') im Sensorbild (18) des Messsensors (17) auf eine vorbekannte Bildposition (19) abgebildet wird, umfasst unterschiedliche Verfahrensschritte so, dass ein Bestimmen einer translatorischen Abweichung (Δx, Δy) zwischen dem Bearbeitungs- und dem Messkoordinatensystem (10, 15) anhand der im Sensorbild (18) des Messsensors (17) vorhandenen Abweichung zwischen der der Fokuslage des Bearbeitungsstrahls (3) entsprechenden vorbekannten Bildposition (19) und der aus den Höheninformationen erfassten Lochblendenmitte (20') erledigt wird. The invention relates to a method for ascertaining translational deviations between the measuring coordinate system (15) of a measuring mirror scanner (13), which can be tilted about two axes (C, D) and deflects a measuring beam (12) in two dimensions, and the processing coordinate system (10) of a processing mirror scanner (7), which can be tilted about two axes (A, B) and deflects both the measuring beam (12) deflected by the measuring mirror scanner (13) and a processing beam (3) in two dimensions onto a workpiece (2). The measuring beam (12') reflected on the workpiece (2) travels back on the path of the incident measuring beam (12) and is captured by a high-resolution measuring sensor (17) in order to determine high-resolution information about the workpiece (2). In a zero position of the measuring mirror scanner (13), the reflected measuring beam (12') is imaged in the sensor image (18) of the measuring sensor (17) onto a previously known image position (19). The method comprises different method steps, so that an ascertainment of a translational deviation (Δχ, Δy) between the processing coordinate system and the measuring coordinate system (10, 15) based on the deviation, present in the sensor image (18) of the measuring sensor (17), between the previously known image position (19) corresponding to the focus position of the processing beam (3) and the pinhole diaphragm center (20') determined from the height information is completed. La présente invention concerne un procédé de détermination d'écarts translatoires entre le système de coordonnées de mesure (15) d'un scanner de mesure à miroirs (13) basculable autour de deux axes (C, D), qui dévie de manière bidimensionnelle un rayon de mesure (12), et le système de coordonnées de traitement (10) d'un scanner de traitement à miroirs (7) basculable autour de deux axes (A, B) qui dévie aussi bien le rayon de mesure (12) dévié par le scanner de mesure à miroirs (13) qu'un rayon de traitement (3) de manière bidimensionnelle sur une pièce à traiter (2). Le rayon de mesure réfléchi (12') sur la pièce à traiter (2) parcourt dans l'autre sens le chemin du rayon de mesure (12) incident et est détecté par un capteur de mesure (17) à résolution locale pour déterminer des informations à résolution locale de la pièce à traiter (2) et, dans une position zéro du scanner de mesure à miroirs (13), le rayon de mesure réfléchi (12') étant reproduit dans l'image captée (18) du capteur de mesure (17) sur une position d'image (19) déjà connue. Ledit procédé comprend les étapes suivantes consistant à : - déterminer l'écart de position de mise au point x-y du rayon de traitement (3) relativement au milieu (20) du diaphragme à trou d'un détecteur de diaphragme à trou (21), disposé sur le plan d'appui (8) de la pièce à traiter, par balayage du diaphragme à trou (22) avec le rayon de traitement (3) dévié par le scanner de traitement à miroirs (7) selon un quadrillage x-y et par évaluation de la puissance laser détectée en chacun des points (24) du quadrillage, ainsi que par fixation du scanner de traitement à miroirs (7) à la position de balayage, corrigée à l'aide de l'écart de position de mise au point x-y déterminé, à laquelle la position de mise au point du rayon de traitement (3) se trouve à une position prédéfinie, en particulier au milieu (20) du diaphragme à trou; - lorsque le scanner de traitement à miroirs (7) est fixé dans la position de balayage corrigée, détecter des informations de hauteur de résolution locale du diaphragme à trou (22) au moyen du capteur de mesure (17) par balayage du diaphragme à trou (22) avec le rayon de mesure (12) dévié par le scanner de mesure à miroirs (13); et - déterminer un écart translatoire (Δχ, Δy) entre le système de coordonnées de traitement et le système de coordonnées de mesure (10, 15) à l'aide de l'écart, présent dans l'image captée (18) du capteur de mesure (17), entre la position d'image (19) déjà connue correspondant à la position de mise au point du rayon de traitement (3) et le centre (20') du diaphragme à trou détecté par les informations de hauteur.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language eng ; fre ; ger
recordid cdi_epo_espacenet_WO2020094709A3
source esp@cenet
subjects CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING
CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING
GYROSCOPIC INSTRUMENTS
MACHINE TOOLS
MEASURING
MEASURING ANGLES
MEASURING AREAS
MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS
MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS
METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
NAVIGATION
PERFORMING OPERATIONS
PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
PHYSICS
SOLDERING OR UNSOLDERING
SURVEYING
TESTING
TRANSPORTING
WELDING
WORKING BY LASER BEAM
title METHOD AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT FOR OCT MEASUREMENT BEAM ADJUSTMENT
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-25T05%3A52%3A39IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=STAMBKE,%20Martin&rft.date=2020-07-02&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EWO2020094709A3%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true