TOPOGRAPHICALLY STRUCTURED SUPPORT FOR ELECTRON CRYSTALLOGRAPHY

It is therefore the objective of the present invention to provide a sample support that enables for example sub-micro range crystals to be deposited on the sample support in an arbitrary orientation although the crystals might have a preferred orientation. This objective is achieved according to the present invention by a sample support for samples in the submicron range in imaging and diffraction techniques, comprising a topographically modulated surface; said surface comprising ridge-like and terrace-like structures having dimensions in the order of magnitude to the size of the submicron-sized sample. Therefore, the topographical structure of ridge-like and terrace like section prevents the 3D crystalline probes from the deposition in a preferred direction due to the shape of the crystal structure on the probe support. L'objectif de la présente invention est de fournir un support d'échantillon qui permet, par exemple, de déposer des cristaux de taille submicronique sur le support d'échantillon selon une orientation arbitraire même si les cristaux peuvent avoir une orientation préférée. Cet objectif est atteint selon la présente invention par un support d'échantillon pour des échantillons de taille submicronique dans des techniques d'imagerie et de diffraction, comprenant une surface topographiquement modulée ; ladite surface comprenant des structures de type arête et de type plateforme dont la dimension présente un ordre de grandeur correspondant à la taille de l'échantillon de taille submicronique. Par conséquent, la structure topographique de la section comportant des structures de type crête et plateforme empêche les sondes cristallines 3D de se déposer dans une direction préférée en raison de la forme de la structure cristalline sur le support de sonde.