METHOD FOR MEASURING SURFACE CHARACTERISTICS IN OPTICALLY DISTORTING MEDIA

Provided is a method for measuring surface characteristics of at least a portion of an object, including providing a light source; generating a first interference pattern on the at least a portion of the object; capturing an image of the first interference pattern; shifting the phase of the light source to generate a second interference pattern; capturing an image of the second interference pattern; filtering distortion from the interference patterns; extracting a wrapped phase of the at least a portion of the object based on the images; unwrapping the wrapped phase of the at least a portion of the object to generate an unwrapped phase; identifying a computed depth map distance to the at least a portion of the object; and fitting an ideal part to the computed depth map of the at least a portion of the object to measure the surface characteristics. L'invention concerne un procédé de mesure de caractéristiques de surface d'au moins une partie d'un objet, comprenant la fourniture d'une source de lumière ; la génération d'un premier motif d'interférence sur lesdites parties de l'objet ; la capture d'une image du premier motif d'interférence ; le décalage de la phase de la source de lumière afin de générer un second motif d'interférence ; la capture d'une image du second motif d'interférence ; le filtrage d'une distorsion des motifs d'interférence ; l'extraction d'une phase enveloppée desdites parties de l'objet en fonction des images ; le désenveloppement de la phase enveloppée desdites parties de l'objet afin de générer une phase désenveloppée ; l'identification d'une distance de carte de profondeur calculée jusqu'auxdites parties de l'objet ; et l'ajustement d'une partie idéale à la carte de profondeur calculée desdites parties de l'objet afin de mesurer les caractéristiques de surface.