METHOD TO CORRECT ION SOURCE INEFFICIENCIES MAKES SAMPLE-TO-SAMPLE NORMALIZATION POSSIBLE
In mass spectrometry significant error is introduced during sample preparation (sample-to-sample error), during ion generation (ion suppression), and during ion transmission (ion transmission losses). We demonstrate the ability to correct for ion suppression and ion transmission losses, and that onc...
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | In mass spectrometry significant error is introduced during sample preparation (sample-to-sample error), during ion generation (ion suppression), and during ion transmission (ion transmission losses). We demonstrate the ability to correct for ion suppression and ion transmission losses, and that once corrected for ion losses, a sample-to-sample normalization of the analytical sample to the internal standard is possible. By normalizing to a standard sample the analytical sample becomes completely comparable to any similarly treated sample.
Dans la spectrométrie de masse, une erreur significative peut être introduite pendant la préparation d'échantillon (erreur échantillon-échantillon), pendant la génération d'ions (suppression d'ions), et pendant la transmission d'ions (pertes de transmission d'ions). Nous avons démontré la capacité de corriger la suppression d'ions et les pertes de transmission d'ions, et que, après correction pour les pertes d'ions, une normalisation échantillon-échantillon de l'échantillon analytique par rapport à la norme interne est possible. En normalisant en un échantillon standard, l'échantillon analytique devient complètement comparable à tout échantillon traité de manière similaire. |
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