APPARATUSES FOR DETECTING CONSTITUENTS IN A SAMPLE AND METHODS OF USING THE SAME

An apparatus for detecting constituents in a sample includes first and second drift tubes defining first and second drift regions and a controllable electric field device within a fragmentation region coupled to the first and second drift tubes. The apparatus also includes a first ion shutter positi...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: SCHMIDT, Hartwig, EICEMAN, Gary, DAVILA, Stephen, LUKOW, Stefan
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:An apparatus for detecting constituents in a sample includes first and second drift tubes defining first and second drift regions and a controllable electric field device within a fragmentation region coupled to the first and second drift tubes. The apparatus also includes a first ion shutter positioned between the first drift and fragmentation regions. The apparatus further includes a control system configured to regulate the first ion shutter, thereby facilitating injection of a selected portion of ions from the first drift region into the fragmentation region. The control system is also configured to regulate the controllable device to modify the selected portion of ions to generate predetermined ion fragments within the fragmentation region, thereby facilitating injection of a selected portion of the predetermined fragmented ions into the second drift region. A method of detecting constituents in a sample is facilitated through such an apparatus. La présente invention concerne un appareil permettant de détecter des constituants dans un échantillon, comprenant des premier et second tubes de glissement délimitant des première et seconde régions de dérive, et un dispositif à champ électrique pouvant être commandé situé dans une région de fragmentation couplée aux premier et second tubes de glissement. L'appareil comprend également un premier obturateur ionique positionné entre la première région de dérive et la région de fragmentation. L'appareil comprend en outre un système de commande configuré de façon à réguler le premier obturateur ionique, facilitant ainsi l'injection d'une partie sélectionnée d'ions de la première région de dérive dans la région de fragmentation. Le système de commande est également configuré de façon à réguler le dispositif pouvant être commandé pour qu'il modifie la partie sélectionnée d'ions de manière à générer des fragments d'ions prédéfinis dans la région de fragmentation, facilitant ainsi l'injection d'une partie sélectionnée des ions fragmentés prédéfinis dans la seconde région de dérive. Un tel appareil facilite un procédé de détection de constituants dans un échantillon.