DEFECT DETECTION AND CORRECTION IN ADDITIVE MANUFACTURING

Disclosed is a method for identifying, in a near-infrared or infrared image of a layer of an object being manufactured by additive manufacturing, at least one pixel representing at least part of a first defect in the object, the method comprising: removing from the image any pixels that are identified as representing at least part of the boundary of the object and any pixels that are outside the border of the second image; identifying any pixel having a difference in brightness from the average brightness in the region around it above a threshold value as representing at least part of a defect. Also disclosed is a method of correcting a defect. L'invention concerne un procédé d'identification, dans une image infrarouge ou proche infrarouge d'une couche d'un objet fabriqué par fabrication additive, d'au moins un pixel représentant au moins une partie d'un premier défaut dans l'objet, le procédé comprenant : l'élimination de l'image de n'importe quels pixels qui sont identifiés comme représentant au moins une partie de la limite de l'objet et de n'importe quels pixels qui sont à l'extérieur de la limite de la seconde image ; l'identification de tout pixel ayant une différence de luminosité par rapport à la luminosité moyenne dans la région autour de celui-ci au-dessus d'une valeur de seuil comme représentant au moins une partie d'un défaut. L'invention concerne également un procédé de correction de défaut.