SYSTEMS AND METHODS FOR CONDUCTING IN-SITU MONITORING IN ADDITIVE MANUFACTURE
Disclosed are various embodiments of systems and methods for conducting, based at least in part on in-situ monitoring data as input, iterative simulations of various part-build simulation models to generate instructions to an Additive Manufacture ("AM") machine. An embodiment of the presen...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | Disclosed are various embodiments of systems and methods for conducting, based at least in part on in-situ monitoring data as input, iterative simulations of various part-build simulation models to generate instructions to an Additive Manufacture ("AM") machine. An embodiment of the present disclosure provides a method that at least includes: building, by the AM machine, an AM part based on a digital twin; monitoring, by an in-situ monitoring sensor, the AM build process; to obtain in-situ monitoring sensing data; determining a discrepancy between the AM part being built and one or more predefined criteria defined based on the digital twin; iteratively simulating an AM simulation model, based on the in-situ monitoring sensing data, to identify an AM process adjustment or a lack of the at least one AM process adjustment; and causing to implement the AM process adjustment by the AM machine to remedy the discrepancy or instructing the AM machine to discharge the AM part.
L'invention concerne divers modes de réalisation de systèmes et de procédés permettant d'effectuer, d'après au moins en partie de données de surveillance in situ servant d'entrée, des simulations itératives de divers modèles de simulation de construction de pièces afin de générer des instructions pour une machine de fabrication additive (« AM »). Un mode de réalisation de l'invention concerne un procédé qui consiste au moins à : construire, au moyen de la machine AM, une pièce AM d'après une jumelle numérique; surveiller, au moyen d'un capteur de surveillance in situ, le processus de construction AM; obtenir des données de détection de surveillance in situ; déterminer une divergence entre la partie AM qui est construite et un ou plusieurs critères prédéfinis définis d'après la jumelle numérique; simuler de manière itérative un modèle de simulation AM d'après les données de détection de surveillance in situ afin d'identifier un ajustement de processus AM ou l'absence de l'ajustement ou des ajustements du processus AM; et faire en sorte que le processus AM soit exécuté par la machine AM afin de remédier à la différence ou demander à la machine AM de décharger la pièce AM. |
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