SYSTEM FOR ANALYZING A DOCUMENT AND CORRESPONDING METHOD

The invention refers to a system (1) for analyzing a document (100), Each of two measurement arrangements (10, 20) comprises two components (11, 12, 21, 22) being a radiation source (11, 21) and a radiation detector (12, 22), respectively. The two measurement arrangements (10, 20) provide measurement data (13, 23) and differ from each other with regard to a measurement principle, a kind of radiation source (11, 21), a kind of radiation detector (12, 22), a kind of relative movement between the document (100) and a component (11, 12, 21, 22), a kind of relative arrangement of the two components (11, 12, 21, 22) to each other, a kind of emitted radiation, a kind of received radiation or a kind of processing information about radiation emitted by the respective radiation source (11, 21) and/or about radiation received by the respective radiation detector (12, 22). An evaluator (50) provides data (101) based on the measurement data (13, 23). The invention also refers to a corresponding method. La présente invention a trait à un système (1) pour analyser un document (100). Deux agencements de mesure (10, 20) comprennent chacun deux composants (11, 12, 21, 22) qui sont respectivement une source de rayonnement (11, 21) et un détecteur de rayonnement (12, 22).Les deux agencements de mesure (10, 20) fournissent des données de mesure (13, 23) et diffèrent l'un de l'autre en ce qui concerne un principe de mesure, un type de source de rayonnement (11, 21), un type de détecteur de rayonnement (12, 22), un type de mouvement relatif entre le document (100) et un composant (11, 12, 21, 22), un type d'agencement relatif des deux composants (11, 12, 21, 22) l'un par rapport à l'autre, un type de rayonnement émis, un type de rayonnement reçu ou un type d'informations de traitement liées au rayonnement émis par la source de rayonnement respective (11, 21) et/ou liées au rayonnement reçu par le détecteur de rayonnement respectif (12, 22). Un évaluateur (50) fournit des données (101) sur la base des données de mesure (13, 23). La présente invention concerne en outre un procédé correspondant.