CREATION OF ELECTRON DENSITY DATASETS FROM SPECTRAL CT DATASETS
A method for converting spectral CT datasets into electron density datasets with applications in the fields of medical image formation or radiation treatment planning. The method comprises a preparation method that fits free parameters of a generalized electron density prediction model based on obta...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | A method for converting spectral CT datasets into electron density datasets with applications in the fields of medical image formation or radiation treatment planning. The method comprises a preparation method that fits free parameters of a generalized electron density prediction model based on obtained electron density values such as data on tissue substitutes, and a conversion method using the fitted parameter prediction model and spectrally decomposed CT data as first and second inputs, respectively. The method is particularly useful in dual-energy CT and more specifically in dual layer detector CT systems.
L'invention concerne un procédé de conversion d'ensembles de données de tomodensitométrie spectrale en ensembles de données de densité d'électrons pouvant être utilisé dans le domaine de la formation d'images médicales ou de la planification d'une radiothérapie. Le procédé comprend un procédé de préparation qui ajuste des paramètres libres d'un modèle généraliste de prédiction de densité d'électrons sur la base de valeurs de densité d'électrons obtenues, telles que des données concernant des substituts tissulaires, et un procédé de conversion utilisant le modèle de prédiction à paramètres ajustés et des données tomographiques spectralement décomposées en tant que première et seconde données d'entrée, respectivement. Le procédé se révèle particulièrement utile dans des systèmes tomographiques double énergie et, plus spécifiquement, dans des systèmes tomographiques à détecteurs double couche. |
---|