WORDLINE READ VOLTAGE OFFSETS IN SOLID STATE MEMORY DEVICES

Systems and methods are described for generating location-based read voltage offsets in a data storage device. Optimal read voltage thresholds vary across memory elements of a device. However, data storage devices are often limited in the number of read voltage thresholds that can be maintained in the device. Thus, it may not be possible to maintain optimal read voltage parameters for each memory element within a device. The systems and methods described herein provide for increased accuracy of read voltage thresholds when applied to memory elements within a specific location in a device, by enabling the use of location-based read voltage offsets, depending on a relative location of the memory element being read from. The read voltage offsets can be determined based on application of a neural network to data regarding optimal read voltage thresholds determined from at least a sample of memory elements in a device. L'invention concerne des systèmes et des procédés permettant de générer un décalage de tension de lecture basé sur l'emplacement dans un dispositif de stockage de données. Des seuils optimaux de tension de lecture varient à travers les éléments de mémoire d'un dispositif. Cependant, les dispositifs de stockage de données sont souvent limités dans le nombre de seuils de tension de lecture qui peuvent être conservés dans le dispositif. Ainsi, il n'est pas possible de maintenir des paramètres de tension de lecture optimaux pour chaque élément de mémoire à l'intérieur d'un dispositif. Les systèmes et les procédés décrits ici fournissent une précision accrue de seuils de tension de lecture lorsqu'ils sont appliqués à des éléments de mémoire à l'intérieur d'un emplacement spécifique dans un dispositif, en permettant l'utilisation de décalages de tension de lecture basés sur l'emplacement, en fonction d'un emplacement relatif de l'élément de mémoire en cours de lecture à partir de. Les décalages de tension de lecture peuvent être déterminés sur la base de l'application d'un réseau neuronal à des données concernant des seuils de tension de lecture optimaux déterminés à partir d'au moins un échantillon d'éléments de mémoire dans un dispositif.