METHOD OF ANALYZING SAMPLES, ANALYZING DEVICE AND COMPUTER PROGRAM

The method of analyzing one or more samples (3) arranged in sample receptacles (2) of a platform (1) that is configured to receive a plurality of separate samples (3) comprises the steps of measuring electromagnetic radiation transmitted or emitted by each sample (3) (201), repeating the measurement a plurality of times at predetermined intervals (202), on the basis of each measurement, forming a result matrix comprising a plurality of cells (23), each cell (23) of the result matrix corresponding to a sample receptacle (2) of the platform (1), wherein a measurement value of each sample (3) is used as an input for determining the visual properties of the respective cell (23) in the result matrix (203), and displaying the results as consecutive matrixes in respect of time (204). L'invention concerne un procédé d'analyse d'au moins un échantillon (3) disposé dans des réceptacles d'échantillons (2) d'une plateforme (1) qui est conçue pour recevoir une pluralité d'échantillons séparés (3), comprenant les étapes consistant : à mesurer un rayonnement électromagnétique transmis ou émis par chaque échantillon (3) (201), à répéter la mesure à une pluralité de reprises à des intervalles prédéfinis (202), en fonction de chaque mesure, à former une matrice de résultats comprenant une pluralité de cellules (23), chaque cellule (23) de la matrice de résultats correspondant à un réceptacle d'échantillons (2) de la plateforme (1), une valeur de mesure de chaque échantillon (3) étant utilisée en tant qu'entrée, pour déterminer les propriétés visuelles de la cellule respective (23) dans la matrice de résultats (203), et pour afficher les résultats sous la forme de matrices consécutives par rapport au temps (204).