AUTOMATIC DEFECT CLASSIFICATION

A method for automatic defect classification, the method may include (i) acquiring, by a first camera, at least one first image of at least one area of an object; (ii) processing the at least one first image to detect a group of suspected defects within the at least one area; (iii) performing a first classification process for initially classifying the group of suspected defects; (iii) determining whether a first subgroup of the suspected defects requires additional information from a second camera for a completion of a classification; (iv) when determining that the first subgroup of the suspected defects requires additional information from the second camera then: (a) acquiring second images, by the second camera, of the first subgroup of the suspected defects; and (b) performing a second classification process for classifying the first subgroup of suspected defects. L'invention concerne un procédé de classification automatique de défauts, ledit procédé pouvant consister à : (i) acquérir, au moyen d'une première caméra, au moins une première image d'au moins une zone d'un objet ; (ii) traiter la première ou les premières images afin de détecter un groupe de défauts suspectés au sein de la zone ou des zones ; (iii) exécuter un premier processus de classification permettant de classer initialement le groupe de défauts suspectés ; (iii) déterminer si un premier sous-groupe des défauts suspectés requiert des informations supplémentaires d'une seconde caméra pour terminer une classification ; (iv) lorsqu'il est déterminé que le premier sous-groupe des défauts suspectés requiert des informations supplémentaires de la seconde caméra : (a) acquérir des secondes images du premier sous-groupe des défauts suspectés au moyen de la seconde caméra ; et (b) exécuter un second processus de classification pour classer le premier sous-groupe de défauts suspectés.