ON-CHIP HARDWARE-CONTROLLED WINDOW STROBING

An integrated circuit with a hardware-based controller enables a system for a set of clock cycles and selectively enables an aspect of the system for a subset of the set of clock cycles. The controller includes a clock cycle select circuit to output a test select signal that indicates the subset of...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: SCHMIDT, Hagen, RODKO, Daniel, TORREITER, Otto Andreas, GENTNER, Thomas Dr
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:An integrated circuit with a hardware-based controller enables a system for a set of clock cycles and selectively enables an aspect of the system for a subset of the set of clock cycles. The controller includes a clock cycle select circuit to output a test select signal that indicates the subset of the set of clock cycles during which to enable the aspect of the system, and a test start circuit to receive the test select signal and output a test signal to the system to enable the system for the set of clock cycles. The controller also includes an AND gate to output a gated signal to enable the aspect of the system for the subset of the set of clock cycles based on the test select signal. Circuit intégré pourvu d'un dispositif de commande à base de matériel activant un système pour un ensemble de cycles d'horloge et activant de manière sélective un aspect du système pour un sous-ensemble de l'ensemble de cycles d'horloge. Le dispositif de commande comprend un circuit de sélection de cycle d'horloge pour délivrer en sortie un signal de sélection de test qui indique le sous-ensemble de l'ensemble de cycles d'horloge pendant lequel activer l'aspect du système, et un circuit de démarrage de test pour recevoir le signal de sélection de test et délivrer en sortie un signal de test au système pour activer le système de l'ensemble de cycles d'horloge. Le dispositif de commande comprend également une porte ET pour émettre un signal à déclenchement périodique pour activer l'aspect du système pour le sous-ensemble de l'ensemble de cycles d'horloge sur la base du signal de sélection de test.