SELF-REFERENCING TERAHERTZ ELECTRO-OPTIC SAMPLING SPECTRAL INTERFEROMETER AND MEASUREMENT SYSTEM

A self-referencing terahertz electro-optic sampling spectral interferometer and measurement system. The self-referencing terahertz electro-optic sampling spectral interferometer comprises a pulse stretcher (102), a broadband half-wave plate (103), lenses (106, 110), a terahertz electro-optic crystal...

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Hauptverfasser: ZENG, Xuanke, ZHENG, Shuiqin, LIU, Junmin, SHANGGUAN, Huangcheng, XU, Shixiang, CAI, Yi
Format: Patent
Sprache:chi ; eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:A self-referencing terahertz electro-optic sampling spectral interferometer and measurement system. The self-referencing terahertz electro-optic sampling spectral interferometer comprises a pulse stretcher (102), a broadband half-wave plate (103), lenses (106, 110), a terahertz electro-optic crystal (109), a birefringent crystal (111), a linear polarizer (112), and a spectrometer (113). The optical elements have a smart structural design related to self-referencing interference, and chirped pulses are employed, on the basis of electro-optic sampling and the spectral interference principle, as a probe to complete a single measurement of high-intensity terahertz time-domain spectroscopy. La présente invention concerne un interféromètre spectral à échantillonnage électro-optique térahertz à autoréférence et un système de mesure. L'interféromètre spectral à échantillonnage électro-optique térahertz à autoréférence comprend un extenseur d'impulsions (102), une lame demi-onde à large bande (103), des lentilles (106