INTERFACE DEVICES FOR USE WITH MEASUREMENT PROBES WITH ENHANCED FUNCTIONALITY
Smart measurement probes may provide information regarding calibration data. However, an electronic instrument connected to such a smart measurement probe may be unable to fully utilize the capacities of the smart measurement probe. A measurement probe may be configured to provide information regard...
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | Smart measurement probes may provide information regarding calibration data. However, an electronic instrument connected to such a smart measurement probe may be unable to fully utilize the capacities of the smart measurement probe. A measurement probe may be configured to provide information regarding calibration data to an instrument, but may not be able to take into account calibration settings of that instrument if that instrument lacks the capability to communicate that information to the smart measurement probe. To address such issues, an interface device may be connected between the smart measurement probe and the instrument, with the ability to generate simulated sensor outputs. A transmitter interrogation process utilizing these simulated sensor outputs may be used to determine the transmitter settings and provide an emulated sensor output emulating a previous sensor-transmitter pairing.
Des sondes de mesure intelligentes peuvent fournir des informations concernant des données d'étalonnage. Cependant, un instrument électronique connecté à une telle sonde de mesure intelligente peut être incapable d'utiliser pleinement les capacités de la sonde de mesure intelligente. Une sonde de mesure peut être configurée pour fournir des informations concernant des données d'étalonnage à un instrument, mais peut ne pas pouvoir prendre en compte les réglages d'étalonnage de cet instrument si cet instrument est dépourvu de la capacité de communiquer ces informations à la sonde de mesure intelligente. Pour résoudre ces problèmes, un dispositif d'interface peut être connecté entre la sonde de mesure intelligente et l'instrument, avec la capacité de générer des sorties de capteur simulées. Un processus d'interrogation d'émetteur utilisant ces sorties de capteur simulées peut être utilisé pour déterminer les réglages d'émetteur et fournir une sortie de capteur émulée émulant un appariement de capteur-émetteur précédent. |
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