METHOD AND APPARATUS FOR BUILT-IN SELF-TEST

An apparatus comprises one or more non-clock and data recovery (CDR) components on a substrate, a signal generator on the substrate and coupled to at least one of the one or more non-CDR components, and a CDR component on the substrate and coupled to the one or more non-CDR components, wherein the CDR component is configured to recover clock data from a received signal by the CDR component, and configured to determine a signal based on the received signal and the clock data. La présente invention concerne un appareil qui comprend un ou plusieurs composants de récupération de données et de non-horloge (CDR) sur un substrat, un générateur de signal sur le substrat et couplé aux un ou plusieurs composants non CDR et/ou et à un composant CDR sur le substrat et couplé au(x) composant(s) non CDR, le composant CDR étant configuré pour récupérer des données d'horloge à partir d'un signal reçu par le composant CDR et configuré pour déterminer un signal sur la base du signal reçu et des données d'horloge.