DEVICE TESTING USING DUAL-FAN COOLING WITH AMBIENT AIR

In one embodiment, a testing apparatus comprises: a modularized logic unit comprising circuitry for testing a plurality of devices under test (DUTs); a DUT interface board for physically and electrically interfacing with said modularized logic unit, said DUT interface board comprising: a loadboard comprising a plurality of sockets for receiving said plurality of DUTs; and a partial enclosure for partially enclosing said plurality of DUTs; a top fan disposed adjacent to a top of said partial enclosure; and a bottom fan disposed adjacent to a bottom of said partial enclosure, wherein the top fan and the bottom fan are operable to generate a vertical ambient air flow from the bottom fan to the top fan to cool said plurality of DUTs with exposed top and bottom sides, wherein the bottom fan is operable to draw ambient air from a surrounding environment. Dans un mode de réalisation de la présente invention, un appareil de test comprend : une unité logique modulaire comprenant un circuit permettant de tester une pluralité de dispositifs en cours de test (DUT) ; une carte d'interface DUT permettant de faire interface physique et électrique avec ladite unité logique modulaire, ladite carte d'interface DUT comprenant : une carte de chargement comprenant une pluralité de prises permettant de recevoir ladite pluralité de DUT ; et une enceinte partielle permettant d'enfermer partiellement ladite pluralité de DUT ; un ventilateur supérieur disposé adjacent à une partie supérieure de ladite enceinte partielle ; et un ventilateur inférieur disposé adjacent à une partie inférieure de ladite enceinte partielle, le ventilateur supérieur et le ventilateur inférieur étant conçus pour générer un écoulement d'air ambiant vertical du ventilateur inférieur au ventilateur supérieur pour refroidir ladite pluralité de DUT aux côtés supérieur et inférieur exposés, le ventilateur inférieur étant conçu pour aspirer de l'air ambiant provenant d'un espace environnant.