CONDITIONING DISKS TO CONDITION SEMICONDUCTOR WAFER POLISHING PADS
Conditioning disks to condition semiconductor wafer polishing pads are disclosed. An example chemical mechanical planarization conditioning disk includes a substrate and a nodule projecting a first height from the substrate. The conditioning disk further includes a protective structure projecting fr...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | Conditioning disks to condition semiconductor wafer polishing pads are disclosed. An example chemical mechanical planarization conditioning disk includes a substrate and a nodule projecting a first height from the substrate. The conditioning disk further includes a protective structure projecting from the substrate. The protective structure is adjacent the nodule. The protective structure has an upper surface at a second height relative to the baseline surface. An area of the upper surface of the protective structure is greater than a top surface of the nodule.
L'invention concerne des disques de conditionnement pour conditionner des disques de polissage de tranche de semiconducteur. Un exemple de disque de conditionnement à planarisation chimico-mécanique comprend un substrat et un nodule faisant saillie d'une première hauteur à partir du substrat. Le disque de conditionnement comprend en outre une structure de protection faisant saillie à partir du substrat. La structure de protection est adjacente au nodule. La structure de protection a une surface supérieure à une seconde hauteur par rapport à la surface de ligne de base. Une zone de la surface supérieure de la structure de protection est supérieure à une surface supérieure du nodule. |
---|