METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING THE PRESENCE OF IONS IN A SAMPLE BY RESONANCE IONIZATION

METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING THE PRESENCE OF IONS IN A SAMPLE BY RESONANCE IONIZATION

A method of determining the presence ions in a sample, comprising: (i) resonantly ionising a sample beam containing the sample with one or more lasers arranged collinearly with the sample beam; (ii) obtaining data relating to resonantly produced electrons resulting from the ionisation of the sample...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: FLANAGAN, Kieran, BINNERSLEY, Cory, FLUERAS, Andrada
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
Schlagworte:
BASIC ELECTRIC ELEMENTS
ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
ELECTRICITY
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container_end_page
container_issue
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container_title
container_volume
creator FLANAGAN, Kieran
BINNERSLEY, Cory
FLUERAS, Andrada
description A method of determining the presence ions in a sample, comprising: (i) resonantly ionising a sample beam containing the sample with one or more lasers arranged collinearly with the sample beam; (ii) obtaining data relating to resonantly produced electrons resulting from the ionisation of the sample beam; and (iii) determining the presence of ions in the sample using the data relating to resonant electrons. La présente invention concerne un procédé de détermination de la présence d'ions dans un échantillon qui consiste : (i) à ioniser par résonance un faisceau échantillon contenant l'échantillon par l'intermédiaire d'au moins un laser placé de manière colinéaire par rapport au faisceau échantillon ; (ii) à obtenir des données relatives à des électrons produits par résonance résultant de l'ionisation du faisceau échantillon ; (iii) à déterminer la présence d'ions dans l'échantillon à l'aide des données relatives aux électrons résonants.
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_WO2018073569A1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>WO2018073569A1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_WO2018073569A13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNqNikEKwjAQAHPxIOofFjwLrUWrx7XdmIDdhCQiClKKxJNoof4fI_gAD8McZsbi2lBQpgbkhLXoMBw9SOOgpkCu0ax5D0ERWEeeuCIwErRhD5oBwWNjDwS7M6RsGL9DqvqCIWkqRvfuMcTZzxMxlxQqtYj9q41D393iM77bk1lm-SYri9V6i3nx3_UBgf0zQw</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING THE PRESENCE OF IONS IN A SAMPLE BY RESONANCE IONIZATION</title><source>esp@cenet</source><creator>FLANAGAN, Kieran ; BINNERSLEY, Cory ; FLUERAS, Andrada</creator><creatorcontrib>FLANAGAN, Kieran ; BINNERSLEY, Cory ; FLUERAS, Andrada</creatorcontrib><description>A method of determining the presence ions in a sample, comprising: (i) resonantly ionising a sample beam containing the sample with one or more lasers arranged collinearly with the sample beam; (ii) obtaining data relating to resonantly produced electrons resulting from the ionisation of the sample beam; and (iii) determining the presence of ions in the sample using the data relating to resonant electrons. La présente invention concerne un procédé de détermination de la présence d'ions dans un échantillon qui consiste : (i) à ioniser par résonance un faisceau échantillon contenant l'échantillon par l'intermédiaire d'au moins un laser placé de manière colinéaire par rapport au faisceau échantillon ; (ii) à obtenir des données relatives à des électrons produits par résonance résultant de l'ionisation du faisceau échantillon ; (iii) à déterminer la présence d'ions dans l'échantillon à l'aide des données relatives aux électrons résonants.</description><language>eng ; fre</language><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS ; ELECTRICITY</subject><creationdate>2018</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20180426&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2018073569A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,778,883,25551,76302</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20180426&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2018073569A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>FLANAGAN, Kieran</creatorcontrib><creatorcontrib>BINNERSLEY, Cory</creatorcontrib><creatorcontrib>FLUERAS, Andrada</creatorcontrib><title>METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING THE PRESENCE OF IONS IN A SAMPLE BY RESONANCE IONIZATION</title><description>A method of determining the presence ions in a sample, comprising: (i) resonantly ionising a sample beam containing the sample with one or more lasers arranged collinearly with the sample beam; (ii) obtaining data relating to resonantly produced electrons resulting from the ionisation of the sample beam; and (iii) determining the presence of ions in the sample using the data relating to resonant electrons. La présente invention concerne un procédé de détermination de la présence d'ions dans un échantillon qui consiste : (i) à ioniser par résonance un faisceau échantillon contenant l'échantillon par l'intermédiaire d'au moins un laser placé de manière colinéaire par rapport au faisceau échantillon ; (ii) à obtenir des données relatives à des électrons produits par résonance résultant de l'ionisation du faisceau échantillon ; (iii) à déterminer la présence d'ions dans l'échantillon à l'aide des données relatives aux électrons résonants.</description><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</subject><subject>ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS</subject><subject>ELECTRICITY</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2018</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqNikEKwjAQAHPxIOofFjwLrUWrx7XdmIDdhCQiClKKxJNoof4fI_gAD8McZsbi2lBQpgbkhLXoMBw9SOOgpkCu0ax5D0ERWEeeuCIwErRhD5oBwWNjDwS7M6RsGL9DqvqCIWkqRvfuMcTZzxMxlxQqtYj9q41D393iM77bk1lm-SYri9V6i3nx3_UBgf0zQw</recordid><startdate>20180426</startdate><enddate>20180426</enddate><creator>FLANAGAN, Kieran</creator><creator>BINNERSLEY, Cory</creator><creator>FLUERAS, Andrada</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20180426</creationdate><title>METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING THE PRESENCE OF IONS IN A SAMPLE BY RESONANCE IONIZATION</title><author>FLANAGAN, Kieran ; BINNERSLEY, Cory ; FLUERAS, Andrada</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2018073569A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2018</creationdate><topic>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</topic><topic>ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS</topic><topic>ELECTRICITY</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>FLANAGAN, Kieran</creatorcontrib><creatorcontrib>BINNERSLEY, Cory</creatorcontrib><creatorcontrib>FLUERAS, Andrada</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>FLANAGAN, Kieran</au><au>BINNERSLEY, Cory</au><au>FLUERAS, Andrada</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING THE PRESENCE OF IONS IN A SAMPLE BY RESONANCE IONIZATION</title><date>2018-04-26</date><risdate>2018</risdate><abstract>A method of determining the presence ions in a sample, comprising: (i) resonantly ionising a sample beam containing the sample with one or more lasers arranged collinearly with the sample beam; (ii) obtaining data relating to resonantly produced electrons resulting from the ionisation of the sample beam; and (iii) determining the presence of ions in the sample using the data relating to resonant electrons. La présente invention concerne un procédé de détermination de la présence d'ions dans un échantillon qui consiste : (i) à ioniser par résonance un faisceau échantillon contenant l'échantillon par l'intermédiaire d'au moins un laser placé de manière colinéaire par rapport au faisceau échantillon ; (ii) à obtenir des données relatives à des électrons produits par résonance résultant de l'ionisation du faisceau échantillon ; (iii) à déterminer la présence d'ions dans l'échantillon à l'aide des données relatives aux électrons résonants.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language eng ; fre
recordid cdi_epo_espacenet_WO2018073569A1
source esp@cenet
subjects BASIC ELECTRIC ELEMENTS
ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
ELECTRICITY
title METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING THE PRESENCE OF IONS IN A SAMPLE BY RESONANCE IONIZATION
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-16T04%3A13%3A07IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=FLANAGAN,%20Kieran&rft.date=2018-04-26&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EWO2018073569A1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true