METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING THE PRESENCE OF IONS IN A SAMPLE BY RESONANCE IONIZATION

A method of determining the presence ions in a sample, comprising: (i) resonantly ionising a sample beam containing the sample with one or more lasers arranged collinearly with the sample beam; (ii) obtaining data relating to resonantly produced electrons resulting from the ionisation of the sample...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: FLANAGAN, Kieran, BINNERSLEY, Cory, FLUERAS, Andrada
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:A method of determining the presence ions in a sample, comprising: (i) resonantly ionising a sample beam containing the sample with one or more lasers arranged collinearly with the sample beam; (ii) obtaining data relating to resonantly produced electrons resulting from the ionisation of the sample beam; and (iii) determining the presence of ions in the sample using the data relating to resonant electrons. La présente invention concerne un procédé de détermination de la présence d'ions dans un échantillon qui consiste : (i) à ioniser par résonance un faisceau échantillon contenant l'échantillon par l'intermédiaire d'au moins un laser placé de manière colinéaire par rapport au faisceau échantillon ; (ii) à obtenir des données relatives à des électrons produits par résonance résultant de l'ionisation du faisceau échantillon ; (iii) à déterminer la présence d'ions dans l'échantillon à l'aide des données relatives aux électrons résonants.