DEVICES, SYSTEMS, AND METHODS FOR ILLUMINATING AND IMAGING OBJECTS

An illumination system includes a surface configured to have an imaging target placed thereon, a light source, a beam splitter and at least a first mirror. The beam splitter is configured to split the beam of light from the light source and the first mirror is configured to reflect a first beam from the beam splitter onto the surface with the imaging target. An imaging system includes an imaging surface configured to have an imaging target placed thereon, a mirror, and a capturing device. The capturing device is configured to capture an image of the imaging target through a path of emitted light that extends from the imaging target, reflects off of the mirror, and to the capturing device. The mirror, the capturing device, or both are configured to move in a diagonal direction with respect to the imaging surface to reduce a length of the path of emitted light. Systems and methods to calibrate an imaging system to remove or reduce non-uniformities within images of samples due to imaging system properties. L'invention concerne un système d'éclairage comprenant une surface conçue de sorte qu'une cible d'imagerie soit placée sur celle-ci, une source de lumière, un diviseur de faisceau et au moins un premier miroir. Le diviseur de faisceau est conçu pour diviser le faisceau de lumière issu de la source de lumière et le premier miroir est conçu pour réfléchir un premier faisceau issu du diviseur de faisceau sur la surface comportant la cible d'imagerie. Un système d'imagerie comprend une surface d'imagerie conçue pour comporter une cible d'imagerie placée sur cette dernière, un miroir et un dispositif de capture. Le dispositif de capture est conçu pour capturer une image de la cible d'imagerie à travers un trajet de lumière émise qui s'étend de la cible d'imagerie, se réfléchit à partir du miroir et jusqu'au dispositif de capture. Le miroir, le dispositif de capture, ou les deux, sont conçus pour se déplacer dans une direction diagonale par rapport à la surface d'imagerie de façon à réduire une longueur du trajet de lumière émise. L'invention concerne également des systèmes et des procédés permettant d'étalonner un système d'imagerie de façon à éliminer ou à réduire des irrégularités dans des images d'échantillons dues à des propriétés du système d'imagerie.