MULTI-DIMENSIONAL OPTIMIZATION OF ELECTRICAL PARAMETERS FOR MEMORY TRAINING

Aspects of the embodiments are directed to systems, methods, and devices for generating a design of experiments (DOE) matrix, the DOE matrix comprising a set of possible combinations of values for a plurality of electrical parameters; iteratively applying each combination of values for the plurality of electrical parameters to one or more memory pins; determining a margin response for each combination of values; generating a prediction function based on a correlation of the margin response and each combination of values; and optimizing the plurality of electrical parameters based on the prediction function. Selon certains modes de réalisation, l'invention concerne des systèmes, des procédés et des dispositifs destinés à générer une matrice de conception d'expériences (DOE), la matrice de DOE comprenant un ensemble de combinaisons possibles de valeurs pour une pluralité de paramètres électriques; à appliquer de manière itérative chaque combinaison de valeurs pour la pluralité de paramètres électriques à une ou plusieurs broches de mémoire; à déterminer une réponse de marge pour chaque combinaison de valeurs; à générer une fonction de prédiction sur la base d'une corrélation de la réponse de marge et de chaque combinaison de valeurs; et à optimiser la pluralité de paramètres électriques sur la base de la fonction de prédiction.