METHOD FOR SCANNING ALONG A 3-DIMENSIONAL LINE AND METHOD FOR SCANNING A REGION OF INTEREST BY SCANNING A PLURALITY OF 3-DIMENSIONAL LINES

The invention relates to a method for scanning along a substantially straight line (3D line) lying at an arbitrary direction in a 3D space with a given speed using a 3D laser scanning microscope having a first pair of acousto-optic deflectors deflecting a laser beam in the x-z plane (x axis deflectors) and a second pair of acousto-optic deflectors deflecting the laser beam in the y-z plane (y axis deflectors) for focusing the laser beam in 3D. The invention further relates to a method for scanning a region of interest with a 3D laser scanning microscope having acousto-optic deflectors for focusing a laser beam within a 3D space defined by an optical axis (Z) of the microscope and X, Y axes that are perpendicular to the optical axis and to each other. L'invention concerne un procédé de balayage le long d'une ligne sensiblement droite (ligne 3D) se trouvant dans une direction arbitraire dans un espace 3D avec une vitesse donnée à l'aide d'un microscope à balayage laser 3D ayant une première paire de déflecteurs acousto-optiques déviant un faisceau laser dans le plan x-z (déflecteurs d'axe x) et une seconde paire de déflecteurs acousto-optiques déviant le faisceau laser dans le plan y-z (déflecteurs d'axe y) permettant de focaliser le faisceau laser en 3D. L'invention concerne en outre un procédé de balayage d'une région d'intérêt au moyen d'un microscope à balayage laser 3D ayant des déflecteurs acousto-optiques permettant de focaliser un faisceau laser dans un espace 3D défini par un axe optique (Z) du microscope et des axes X, Y qui sont perpendiculaires à l'axe optique et l'un par rapport à l'autre.