TESTING DEVICE AND METHOD FOR TESTING A MONITORING DEVICE WITH TRAVELLING WAVE CAPTURE

Um eine Prüfung eines Überwachungsgerätes mit Wanderwellenerfassung im Feld, so wie sie auch im realen Betrieb installiert sind, zu ermöglichen ist vorgesehen, dass im Prüfgerät (10) der zeitliche Verlauf einer niederfrequenten Fehlerspannung (UF(t)) und/oder der zeitliche Verlauf eines niederfrequenten Fehlerstromes (IF(t)) eines Fehlers (F) auf einem Stromleiter (3) und der Zeitpunkt (tA, tB) des Eintreffens einer vom Fehlerort (F) ausgehenden Wanderwelle (W) an einem vorgegebenen Ort (x, L-x) des Stromleiters (3) berechnet werden und im Prüfgerät (10) ein Spannungsverstärker (14) zum Erzeugen des zeitlichen Verlaufs der niederfrequenten Fehlerspannung (UF(t)) und/oder ein Stromverstärker (15) zur Erzeugung des zeitlichen Verlaufs des niederfrequenten Fehlerstromes (IF(t)) von einer Steuereinheit (11) angesteuert werden, um an einem Spannungsausgang des Prüfgeräts (10) die niederfrequente Fehlerspannung (UF(t)) und/oder an einem Stromausgang des Prüfgeräts (10) den niederfrequenten Fehlerstrom (IF(t)) auszugeben und zum berechneten Zeitpunkt (tA, tB) des Eintreffens der Wanderwelle (W) ein Spannungspulsgenerator (16) zum Erzeugen eines Spannungspulses und/oder ein Strompulsgenerator (17) zum Erzeugen eines Strompulses von der Steuereinheit (11) angesteuert werden, um die Fehlerspannung (UF(t)) mit einem Spannungspuls und/oder den Fehlerstrom (IF(t)) mit einem Stromimpuls zu überlagern. In order to make it possible to test a monitoring device with travelling wave capture in the field, as are also installed in real operation, provision is made for the temporal profile of a low-frequency fault voltage (UF(t)) and/or the temporal profile of a low-frequency fault current (IF(t)) of a fault (F) on a current conductor (3) and the time (tA, tB) at which a travelling wave (W) starting from the fault location (F) arrives at a predetermined location (x, L-x) of the current conductor (3) to be calculated in the testing device (10), and for a voltage amplifier (14) for generating the temporal profile of the low-frequency fault voltage (UF(t)) and/or a current amplifier (15) for generating the temporal profile of the low-frequency fault current (IF(t)) to be controlled by a control unit (11) in the testing device (10) in order to output the low-frequency fault voltage (UF(t)) at a voltage output of the testing device (10) and/or the low-frequency fault current (IF(t)) at a current output of the testing device (10), and for a voltage pulse generator (16) for generating