MICROPROCESSOR CONTROLLED LIGHT EMITTING DIODE DRIVING CIRCUIT

A light emitting diode (LED) driving circuit includes a primary control section and an output section isolated from the primary control section. A method of detecting faults in the driving circuit includes obtaining an output level of the driving circuit. The method also includes comparing, by a microprocessor in the output section, the output level of the light emitting diode driving circuit with a predetermined threshold level. When the output 5 level of the light emitting diode does not meet the predetermined threshold level, the method includes identifying by the microprocessor a fault in the light emitting diode driving circuit based on the comparing with the predetermined threshold level. La présente invention concerne un circuit d'attaque de diode électroluminescente (DEL) comprenant une section de commande principale et une section de sortie isolée de la section de commande principale. Un procédé de détection de défauts dans le circuit d'attaque comprend l'obtention d'un niveau de sortie du circuit d'attaque. Le procédé comprend également la comparaison, par un microprocesseur dans la section de sortie, du niveau de sortie du circuit d'attaque de DEL à un niveau seuil prédéterminé. Lorsque le niveau de sortie (5) de la DEL n'atteint pas le niveau seuil prédéterminé, le procédé comprend l'identification, par le microprocesseur, d'un défaut dans le circuit d'attaque de DEL sur la base de la comparaison au niveau seuil prédéterminé.