METHOD FOR INSPECTING AND METHOD FOR ANALYZING ORGANIC ELECTRONIC DEVICE, AND USE THEREFOR

Provided is an inspection method for non-destructively detecting the location of an abnormality generated by electrical operation of an organic electronic device. The inspection method pertaining to the present invention includes a detection step for detecting the location of an abnormality generated by electrical operation of an organic electronic device by evaluating, using an optical method, a defect in the organic electronic device in a state in which electrical operation is not performed. L'invention concerne un procédé d'inspection permettant de détecter de manière non destructive l'emplacement d'une anomalie générée par actionnement électrique d'un dispositif électronique organique. Le procédé d'inspection de la présente invention comprend une étape de détection consistant à détecter l'emplacement d'une anomalie générée par actionnement électrique d'un dispositif électronique organique par évaluation, à l'aide d'un procédé optique, d'un défaut dans le dispositif électronique organique dans un état dans lequel l'actionnement électrique n'est pas effectué. 有機エレクトロニクスデバイスの電気的な動作によって発現する異常箇所を非破壊にて検出する検査方法を実現する。本発明に係る検査方法は、光学的手法を用いて、電気的な動作を施していない状態の有機エレクトロニクスデバイスの欠陥を評価することによって、当該有機エレクトロニクスデバイスの電気的な動作によって発現する異常箇所を検出する検出工程を含む。