DEVICE ABNORMALITY DIAGNOSIS METHOD AND DEVICE ABNORMALITY DIAGNOSIS DEVICE

The device abnormality diagnosis method pertaining to the present disclosure is an abnormality diagnosis method for diagnosing an abnormality of a device to be diagnosed among constituent devices of a plant, and comprises: a step for acquiring time-series data on multiple state quantities of the plant which are correlated with the abnormality of the device to be diagnosed; a step for acquiring data for abnormality diagnosis of the multiple state quantities by performing pre-processing during which data on at least one state quantity among the multiple state quantities which is acquired during an exclusion period, that is, at least a part of a transient state period during which the device to be diagnosed is affected by a change in the state of another constituent device of the plant with regard to the at least one state quantity, is subtracted from the time-series data of the state quantities; and a step for performing abnormality diagnosis of the device to be diagnosed on the basis of the data for abnormality diagnosis of the multiple state quantities Le procédé de diagnostic d'anomalie de dispositif selon la présente invention est un procédé de diagnostic d'anomalie pour diagnostiquer une anomalie d'un dispositif à diagnostiquer parmi des dispositifs constitutifs d'une installation, et comprend : une étape d'acquisition de données de série chronologique sur de multiples quantités d'état de l'installation qui sont corrélées à l'anomalie du dispositif à diagnostiquer; une étape d'acquisition de données pour un diagnostic d'anomalie des multiples quantités d'état en effectuant un prétraitement pendant lequel des données sur au moins une quantité d'état parmi les multiples quantités d'état qui sont acquises pendant une période d'exclusion, c'est-à-dire au moins une partie d'une période d'état transitoire pendant laquelle le dispositif à diagnostiquer est affecté par un changement de l'état d'un autre dispositif constitutif de l'installation par rapport à l'au moins une quantité d'état, sont soustraites des données de série chronologique des quantités d'état; et une étape pour effectuer un diagnostic d'anomalie du dispositif à diagnostiquer sur la base des données pour un diagnostic d'anomalie des multiples quantités d'état. 本開示に係る機器の異常診断方法は、プラントを構成する機器のうち対象機器の異常を診断するための異常診断方法は、前記対象機器の異常と相関がある前記プラントの複数の状態量の時系列データを取得するステップと、前記複数の状態量のうち少なくとも一つの状態量について、前記プラントを構成する他の機器の状態変化の影響が前記対象機器に及ぶ過渡状態期間の少なくとも一部である除外期間内に取得した前記少なくとも一つの状態量のデータを該状態量についての前記時系列データから除外する前処理を行って、前記