SPECTRUM MEASUREMENT METHOD USING FOURIER-TRANSFORM-TYPE SPECTROMETER

A spectrum measurement method comprising applying a Fourier transform to an interferogram of infrared interference waves acquired using an interferometer, the spectrum measurement method including a step for oversampling intensity signals of infrared interference waves at each position (D1, D1, . . .) of a movable mirror using the wavelength λ1 of a semiconductor laser as a reference, and a step for inserting intensity signals (I1', I2', . . .) that would be obtained in the case of sampling infrared interference waves at each position (D1', D2', . . .) of the movable mirror using the wavelength λ0 of an He-Ne laser as a reference using the intensity signals (I1, I2, . . .) acquired by the oversampling, and the spectrum measurement method being capable of effectively utilizing existing spectral data and the like measured using the wavelength λ0 by calculating a spectrum from an interferogram based on the inserted intensity signals. L'invention concerne un procédé de mesure de spectre consistant à appliquer une transformée de Fourier à un interférogramme d'ondes d'interférence infrarouge acquis à l'aide d'un interféromètre, le procédé de mesure de spectre comprenant une étape de suréchantillonnage de signaux d'intensité d'ondes d'interférence infrarouge à chaque position (D1, D2, ...) d'un miroir mobile à l'aide de la longueur d'onde λ1 d'un laser à semi-conducteurs comme référence, et une étape d'insertion de signaux d'intensité (I1', I2', ...) qui seraient obtenus dans le cas de l'échantillonnage d'ondes d'interférence infrarouge à chaque position (D1', D2', ...) du miroir mobile à l'aide de la longueur d'onde λ0 d'un laser He-Ne comme référence à l'aide des signaux d'intensité (I1, I2, ...) acquis par le suréchantillonnage, et le procédé de mesure de spectre étant apte à utiliser efficacement des données spectrales existantes et analogues mesurées à l'aide de la longueur d'onde λ0 en calculant un spectre à partir d'un interférogramme basé sur les signaux d'intensité insérés. 干渉計を用いて取得された赤外干渉波のインターフェログラムをフーリエ変換することによるスペクトル測定方法であって、半導体レーザーの波長λ１を基準とする可動鏡の各位置（Ｄ１，Ｄ２，・・・）での赤外干渉波の強度信号をオーバーサンプリングするステップと、Ｈｅ-Ｎｅレーザーの波長λ０を基準とする可動鏡の各位置（Ｄ１'，Ｄ２'，・・・）で赤外干渉波をサンプリングした場合に得られるであろう強度信号（Ｉ１'，Ｉ２'，・・・）を、前記オーバーサンプリングによって取得した強度信号（Ｉ１，Ｉ２，・・・）を用いて内挿するステップと、を含み、内挿された強度信号に基づくインターフェログラムからスペクトルを算出することによって、波長λ０を用いて測定された既存のスペクトルデータなどを有効に利用することができるスペクトル測定方法。