COATED PROBE TIPS FOR PLUNGER PINS OF AN INTEGRATED CIRCUIT PACKAGE TEST SYSTEM

Coated probe tips are described for plunger pins of an integrated circuit package tests system. One example has a plunger having a tip to contact a solder ball of an integrated circuit package, a sleeve to hold the plunger and allow the plunger to move toward and away from the package, the sleeve being held in a socket, a spring within the sleeve to drive the plunger toward the package, and a coating over the tip, the coating being harder than a solder ball. L'invention concerne des pointes de sonde revêtues pour des tiges de plongeur d'un système de tests de de boîtier de circuit intégré. Un exemple comprend un plongeur ayant une pointe destinée à venir en contact avec une bille de soudure d'un boîtier de circuit intégré, un manchon pour tenir le plongeur et permettre au plongeur de se déplacer vers et en retrait du boîtier, le manchon étant maintenu dans une douille, un ressort à l'intérieur du manchon pour pousser le plongeur vers le boîtier, et un revêtement sur la pointe, le revêtement étant plus dur qu'une bille de soudure.