CALIBRATABLE DATA CONVERTER

The disclosure relates to a calibratable data converter, in particular to a calibratable Analog-to-Digital Converter (ADC) (300), comprising: a comparator (103); a first capacitor line (Cp, 110) comprising a plurality of capacitances coupled in parallel to a first input terminal (+) of the comparator (103); a second capacitor line (Cn, 120) comprising a plurality of capacitances coupled in parallel to a second input terminal (-) of the comparator (103); and a controller (104) configured: to drive a first part (111) of the first capacitor line (110) with a first voltage pattern (112) and a corresponding first part (121) of the second capacitor line (120) with a second voltage pattern (122) in order to sample the voltage patterns to the capacitors of the first part (111) of the first capacitor line (110) and the corresponding first part (121) of the second capacitor line (120) respectively, to drive the first part (111) of the first capacitor line (110) with a second voltage pattern (122)and the corresponding first part (121) of the second capacitor line (120) with the first voltage pattern (112) in order to generate a comparator input voltage (Vq) between the input terminals (+,-) of the comparator (103), and to adjust a second part (113) of the first capacitor line (110) and a corresponding second part (123) of the second capacitor line (120) in order to capture a residual voltage, which corresponds to the comparator input voltage (Vq), as calibration value. L'invention concerne un convertisseur de données étalonnable, en particulier un convertisseur analogique-numérique (ADC) étalonnable (300), comprenant : un comparateur (103) ; une première ligne de condensateurs (Cp, 110) comprenant une pluralité de condensateurs couplés en parallèle à une première borne d'entrée (+) du comparateur (103) ; une seconde ligne de condensateurs (Cn, 120) comprenant une pluralité de condensateurs couplés en parallèle à une seconde borne d'entrée (-) du comparateur (103) ; et un dispositif de commande (104) configuré : pour attaquer une première partie (111) de la première ligne de condensateurs (110) avec un premier motif de tension (112) et une première partie correspondante (121) de la seconde ligne de condensateurs (120) avec un second motif de tension (122) afin d'échantillonner les motifs de tension sur les condensateurs de la première partie (111) de la première ligne de condensateurs (110) et de la première partie correspondante (121) de la seconde ligne de condensat